一、湖北非真空高低溫探針臺(tái)技術(shù)特點(diǎn)
寬溫域覆蓋
溫度范圍通常為-196℃（液氮溫度）至300℃或更高，部分型號(hào)可覆蓋-60℃至500℃，滿足不同材料和器件對惡劣溫度的測試需求。
溫度穩(wěn)定性高，如某些型號(hào)在-60℃至300℃范圍內(nèi)可實(shí)現(xiàn)±0.1℃的溫度控制精度，確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
非真空環(huán)境設(shè)計(jì)
采用密閉腔體結(jié)構(gòu)，通過屏蔽暗室或惰性氣體保護(hù)，防止無線電磁干擾，同時(shí)避免真空環(huán)境帶來的復(fù)雜操作和成本。
適用于對氧化不敏感的材料測試，如部分金屬材料、陶瓷材料及部分半導(dǎo)體器件。
高精度定位與測量
配備高精度探針臂和顯微鏡，可實(shí)現(xiàn)亞微米級(jí)定位精度，滿足微小器件的測試需求。
支持IV/CV/RF等多參數(shù)測試，漏電精度可達(dá)10p，高頻測試頻段可達(dá)67GHz，滿足高頻器件的測試需求。
二、湖北非真空高低溫探針臺(tái)應(yīng)用場景
半導(dǎo)體器件研發(fā)
測試晶體管、二極管等器件在不同溫度下的電學(xué)特性，如導(dǎo)通特性、擊穿電壓、噪聲系數(shù)等，評估器件的可靠性和穩(wěn)定性。
適用于對氧化不敏感的半導(dǎo)體材料測試，如某些化合物半導(dǎo)體（如GaAs、GaN）的初步研發(fā)階段。
材料科學(xué)研究
研究材料在惡劣溫度下的電學(xué)、熱學(xué)特性，如電阻率、熱導(dǎo)率、熱膨脹系數(shù)等，為新材料開發(fā)提供數(shù)據(jù)支持。
適用于金屬材料、陶瓷材料及部分復(fù)合材料的性能測試。
光電與傳感器開發(fā)
測試光電探測器、傳感器等器件在不同溫度下的響應(yīng)特性，優(yōu)化器件的設(shè)計(jì)參數(shù)。
適用于對氧化不敏感的光電材料測試，如某些紅外探測器材料的初步篩選。
三、優(yōu)勢
操作簡便，成本低
非真空環(huán)境設(shè)計(jì)簡化了操作流程，無需復(fù)雜的真空抽取和維持設(shè)備，降低了設(shè)備成本和維護(hù)成本。
適用于實(shí)驗(yàn)室研發(fā)和小批量生產(chǎn)，提高了測試效率。
適應(yīng)性強(qiáng)
可測試對氧化不敏感的多種材料和器件，拓寬了應(yīng)用范圍。
部分型號(hào)支持快速溫度變化，如從-60℃升至300℃僅需數(shù)分鐘，適用于熱循環(huán)測試等場景。
高精度與高可靠性
采用溫度控制系統(tǒng)和精密的電學(xué)測量系統(tǒng)，確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。
設(shè)備結(jié)構(gòu)穩(wěn)定，使用壽命長，適用于長時(shí)間連續(xù)測試。
四、選型要點(diǎn)
溫度范圍與穩(wěn)定性
根據(jù)測試需求選擇合適的溫度范圍，并關(guān)注溫度控制精度和穩(wěn)定性。
探針定位精度與測量能力
確保探針臂的定位精度和顯微鏡的放大倍數(shù)滿足測試需求，同時(shí)關(guān)注設(shè)備的測量參數(shù)范圍和精度。
環(huán)境適應(yīng)性
考慮設(shè)備對電磁干擾、射頻干擾的屏蔽能力，以及是否需要惰性氣體保護(hù)等環(huán)境適應(yīng)性要求。
設(shè)備擴(kuò)展性與兼容性
優(yōu)先選擇支持模塊化升級(jí)的設(shè)備，如可加載針卡、支持自動(dòng)化測試腳本等，以適應(yīng)未來測試需求的變化。
確保設(shè)備與常用測試儀器（如源表、網(wǎng)絡(luò)分析儀）的兼容性。
