橢偏儀

摘要高精度光譜橢偏儀！可以精確測量折射指數、消光系數（n & K)，膜厚等，廣泛適用于半導體、電介質、聚合物、金屬等材料，單層薄膜和多層膜。客戶包括US Army Research Lab，NASA，NIST，UC Berkeley，MIT，Harvard，Honeywe...

摘要 智能型多功能橢偏儀 Smart SE

摘要 一鍵式全自動快速橢偏儀 Auto SE

摘要 研究級經典型橢偏儀-UVISEL

摘要 激光橢偏儀

摘要 光譜橢偏儀

摘要簡要描述：光學鍍膜橢偏儀ME-L 是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了頤光科研團隊在橢偏技術多年的投入，其采用行業前沿的創新技術，包括消色差補償器、雙旋轉補償器同步控制、穆勒矩陣數據分析等。可應用于各種各向同性/異性薄膜材料膜厚、光學納米光柵常數以及一維/...

摘要 太陽能電池專用橢偏儀

摘要 20多年技術積累和發展的結晶,是一款高準確性、高靈敏度、高穩定性的經典橢偏機型

摘要 基于25年經驗，UVISELPlus相位調制橢偏儀提供純正有效的偏振調制，可用于各種樣品的精確測量，的FastAcqTM快速采集技術使得測試靈敏度提高至原有的2倍，從而能獲得界面薄膜和納米級低襯度襯底樣品的更多信息

摘要 AutoSE是一種新型的按鍵式全自動薄膜測量分析工具，需簡單的幾個按鍵操作，即可完成全自動測量和分析

摘要 Gaertner Stokes Waferskan橢偏儀LSE-WS，Gaertner stokes waferskan™ ellipsometer LSE-WS

摘要 Gaertner stokes 微點橢偏儀LSE-MS，Gaertner stokes microspot ellipsometer LSE-MS

摘要 這款自動光譜橢偏儀M300是一種自動變角光譜橢偏儀和深紫外光譜橢偏儀,具有250-1100nm的波長范圍，并具有自動改變入射角的功能

摘要 這款反射式光譜橢偏儀MSP具有250-1000nm的波長范圍，可與顯微分光光度計聯合使用，測量極小斑點的薄膜厚度和折射率，可廣泛用于MEMS，半導體晶圓等領域,是反射光譜橢偏儀品牌中光譜橢偏儀價格較低的橢偏儀

摘要 這款手動光譜橢偏儀是一種手動變角光譜橢偏儀和深紫外光譜橢偏儀,具有250-1100nm的波長范圍，手動改變入射角

摘要這款大型光譜橢偏儀SE200BM-M450具有450mm直徑樣品臺，提供更為安全的樣品操作和定位，具有250-850nm的波長范圍，是美國Angstrom公司為大尺寸樣品薄膜厚度測量而設計的美國進口光譜橢偏儀,Spectroscopic,Ellipsometer,具有...

摘要 這款光伏太陽能光譜橢偏儀專業為光伏太陽能領域的薄膜測量而開的手動光伏橢偏儀，這款光伏太陽能光譜橢偏儀為光伏薄膜測量研究提供便利，具有實時測量薄膜厚度和薄膜厚度繪圖的*功能

摘要 這款手動低價光譜橢偏儀是高性價比手動橢偏儀,它采用手動改變測角計入射角技術,相比于自動改變入射角的自動光譜橢偏儀價格更低

摘要 這款高級自動光譜橢偏儀是自動變角橢偏儀,能夠自動改變測角計入射角的spectroscopicellipsometer,角度改變步進高達0.01度，光譜范圍覆蓋250-1700nm,是寬波段高精度自動橢偏儀

摘要 產品信息 特點 可在紫外和可見（250至800nm）波長區域中測量橢圓參數 可分析納米級多層薄膜的厚度 可以通過超過400ch的多通道光譜快速測量Ellipso光譜 通過可變反射角測量，可詳細分析...

摘要OPTM系列顯微分光膜厚儀使用顯微光譜法在微小區域內通過反射率進行測量，可進行高精度膜厚度/光學常數分析。可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各種膜、晶片、光學材料和多層膜。 測量時間上，能達到1秒/點的高速測量，并且搭載了即使是初次使用的用戶，也可容易出分...

摘要 天津瑞利光電科技有限公司優勢經銷日本HORIBA光譜橢偏儀UVISEL 2 series產品型號：UVISEL 2關鍵字：HORIBA光譜橢偏儀UVISEL 2關鍵字描述：

摘要 天津瑞利光電科技有限公司優勢經銷日本HORIBA光譜橢偏儀-UVISEL 2 series產品型號：UVISEL 2關鍵字：HORIBA光譜橢偏儀UVISEL 2關鍵字描述：

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摘要

摘要 SpecEl橢偏儀通過測量基底反射的偏振光，進而測量薄膜厚度及材料不同波長處的折射率。SpecEl通過PC控制來實...

摘要 光譜橢偏儀SE-1000另一方面，SE-1000型全光譜橢偏儀采用了新設計的光學部件以及新版本的測試分析軟件（SAM/SEA），*地提高了設備的運行穩定性和數據處理能力

摘要 天津瑞利光電科技有限公司優勢經銷HORIBA光譜橢偏儀UVISEL 系列產品型號：UVISEL 2

摘要 天津瑞利光電科技有限公司優勢經銷HORIBA光譜橢偏儀UVISEL 系列產品型號：UVISEL 2

摘要 Film Sense FS-1™多波長橢偏儀LED 光源和非移動式部件橢偏探測器，可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實現快速和可靠地薄膜測量。大多數厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要簡單的 1 秒測量，就可以獲得非常精密和準確的數據。

摘要 AutoSE-一鍵式全自動快速橢偏儀新型的全自動薄膜測量分析工具。 采用工業化設計，操作簡單，可在幾秒鐘內完成全自動測量和分析，并輸出分析報告。是用于快速薄膜測量和器件質量控制理想的解決方案。

摘要 Smart SE智能型多功能橢偏儀是一款針對單層和多層薄膜進行簡單，快速，精確表征和分析的工具。 多功能性設計，配置靈活，具備多角度測量能力，可方便實現在線與離線配置切換。

摘要光譜型參比橢偏儀橢偏技術對表界面非常敏感，百年來一直被用于各種薄膜的光學分析測量。它的基本原理是，當一束偏振光經過樣品表界面反射之后偏振狀態會發生變化。并且，如果樣品表面是一層薄膜（或者多層薄膜堆疊），整個薄膜/基底的光學系統信息對反射光束的偏振狀態都有影響。因此，通...

摘要 新一代激光成像橢偏儀新一代的超薄膜、表界面和材料分析測試平臺，結合自動消光橢偏技術和傳統光學顯微鏡技術。橫向（X/Y方向）分辨率超過1微米

摘要 新一代光譜成像橢偏儀新一代的超薄膜、表界面和材料分析測試工具，結合自動消光橢偏技術和傳統顯微鏡技術，橫向（X/Y方向）分辨率超過1微米新一代成像橢偏儀Nanofilm_EP4具有多種*功能

摘要 反射式光譜橢偏儀價格具有250-1000nm的波長范圍，可與顯微分光光度計聯合使用，測量極小斑點的薄膜厚度和折射率，可廣泛用于MEMS，半導體晶圓等領域,是反射光譜橢偏儀品牌中光譜橢偏儀價格較低的橢偏儀。

摘要手動光譜橢偏儀價格是一種手動變角光譜橢偏儀和深紫外光譜橢偏儀,具有250-1100nm的波長范圍，手動改變入射角。手動spectroscopic ellipsometer光譜范圍覆蓋從深紫外到可見光再到近紅外.深紫外波長非常適合測量超薄薄膜，比如納米厚度薄膜測量,硅晶...

摘要 大型光譜橢偏儀價格提供更為安全的樣品操作和定位，具有250-850nm的波長范圍，是美國Angstrom公司為大尺寸樣品薄膜厚度測量而設計的美國進口光譜橢偏儀,Spectroscopic,Ellipsometer,具有高性價比橢偏儀價格和橢偏儀品牌。

摘要 光伏太陽能光譜橢偏儀價格是專業為光伏太陽能領域的薄膜測量而開的手動光伏橢偏儀，這款光伏太陽能光譜橢偏儀為光伏薄膜測量研究提供便利，具有實時測量薄膜厚度和薄膜厚度繪圖的*功能。它采用手動改變測角計的入射角，數秒中給出結果。

摘要 手動低價光譜橢偏儀價格它采用手動改變測角計入射角技術,相比于自動改變入射角的自動光譜橢偏儀價格更低。橢圓偏振技術是通過研究光束在樣本表面反射后偏振態變化而獲得表面薄膜厚度等信息的薄膜測量技術。

摘要 高級自動光譜橢偏儀價格是自動變角橢偏儀,能夠自動改變測角計入射角的spectroscopic ellipsometer,角度改變步進高達0.01度，光譜范圍覆蓋250-1700nm, 是寬波段高精度自動橢偏儀。

摘要ME-L 穆勒矩陣橢偏儀概述ME-L 是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了頤光科研團隊在橢偏技術多年的投入，其采用行業前沿的創新技術，包括消色差補償器、雙旋轉補償器同步控制、穆勒矩陣數據分析等。可應用于各種各向同性/異性薄膜材料膜厚、光學納米光柵常數以及一...

摘要 SE-VM光譜橢偏儀E-VM是一款高精度快速測量光譜橢偏儀。可實現科研/企業級高精度快速光譜橢偏測量，支持多角度，微光斑，可視化調平系統等高兼容性靈活配置，多功能模塊定制化設計。