臺階儀

摘要 D-600 探針式輪廓儀 膜厚儀 臺階儀

摘要 全自動臺階儀P170

摘要 臺階儀 探針式輪廓儀 膜厚儀 P17

摘要 臺階儀 探針式輪廓儀 膜厚儀 P7

摘要 P17 自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀

摘要 P170 全自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀

摘要 D300 經濟型高精度臺階儀

摘要 D500 高精度臺階儀

摘要 D600 高精度探針式輪廓儀/臺階儀

摘要 P7 晶圓探針式輪廓儀/臺階儀

摘要 Kosaka ET150臺階儀 KOSAKAET150基于WindowsXP系統為多種不同表面提供全面的形貌分析，包括半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS及平板顯示等。

摘要 我們做為世界高精度臺階儀、光學輪廓儀的，是生產悠久的公司

摘要 德國布魯克 DektakXT 臺階儀

摘要 產品概述：●高精度．安定性．機能性適合于FPD基板·晶圓硬盤等的微細形狀、段差、粗度測定的機型

摘要這款三維臺階儀是德國進口的高精度光學臺階儀器,也是一款光學表面臺階儀適合臺階高度測量,具有較低的進口臺階儀品牌臺階儀價格,適合對表面幾何形狀和表面紋理分析,以標準方案或定制性方案對二維形貌或三維形貌表面形貌和表面紋理,微米和納米形狀,圓盤,圓度,球度,臺階高度,距離,...

摘要簡單介紹 美國KLA-Tencor AlphaStep臺階儀 膜厚儀 探針接觸式輪廓儀 D-300，它廣泛應用于太陽能薄膜材料、半導體硅片、微電子器件、薄膜化學涂層、平板顯示器等研究領域。在新型薄膜...

摘要KOSAKA 臺階儀ET4000系列產品概述：● 高精度．安定性．機能性適合于FPD基板·晶圓硬盤等的微細形狀、段差、粗度測定的機型。● 是多機能的全自動微細形狀測定機，針對用途及樣品尺寸有多種機型可供選擇。● ET4000A/ ET4000AK一可實現2D...

摘要 KOSAKA 臺階儀產品概述：● ET200A臺階儀適用于二次元表面納米等級段差臺階測定、粗糙度測定。● ET200A臺階儀擁有高精度．高分解能，搭配一體花崗巖結構，安定的測量過程及微小的測定力可對應軟質樣品表面。● 該型號臺階儀采用直動式檢出器，重現性高。

摘要 Alpha-Step D-500臺階儀探針測量技術的一個優點是它是一種直接測量，與材料特性無關。 可調節的觸力以及探針的選擇都使其可以對各種結構和材料進行精確測量。 通過測量粗糙度和應力，可以對工藝進行量化，確定添加或去除的材料量，以及結構的任何變化。

摘要 Alpha-Step D-600 臺階儀探針測量技術的一個優點是它是一種直接測量，與材料特性無關。 可調節的觸力以及探針的選擇都使其可以對各種結構和材料進行精確測量。 通過測量粗糙度和應力，可以對工藝進行量化，確定添加或去除的材料量，以及結構的任何變化。

摘要 P-17 臺階儀因而具備出色的測量穩定性。 通過點擊式平臺控制、頂視和側視光學系統以及帶光學變焦的高分辨率相機等功能，程序設置簡便快速。 P-17具備用于量化表面形貌的各種濾鏡、調平和分析算法，可以支持2D或3D測量。 并通過圖案識別、排序和特征檢測實現全自動測量。

摘要 P-170 臺階儀因而具備出色的測量穩定性。通過點擊式平臺控制、頂視和側視光學系統以及帶光學變焦的高分辨率相機等功能，程序設置簡便快速。P-170具備用于量化表面形貌的各種濾鏡、調平和分析算法，可以支持2D或3D測量。并通過圖案識別、排序和特征檢測實現全自動測量。

摘要 P-7 臺階儀 它保持了P-17技術的測量性能，并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了*的性價比。 P-7可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可達150mm而無需圖像拼接。

摘要臺階實驗測試儀 臺階測試儀型號：LDX-TJCS-II本產品是根據《中國成年人體質測定標準》測試細則要求和我國少年兒童保健工作常規檢查內容的需要，由我單位設計制成的，是一種簡易評價成年人的血心管系統功能的定量負荷試驗。主要通過觀察定量負荷持續地運動時間、運動中心血管...

摘要 臺階儀

摘要DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）是一項創新性的設計，可以提供更高的重復性和分辨率，測量重復性可以達到5?。臺階儀這項性能的提高達到了過去四十年Dektak技術創新的，更加鞏固了其行業地位。不論應用于研發還是產品測量，通過在研究工作中的廣泛使用，Dektak...

摘要 我們為客戶提供從外延片-芯片-封裝-組裝全產業鏈的測試解決方案。　

摘要 德國布魯克Dektak XTL探針式輪廓儀系統