臺(tái)階儀

摘要 產(chǎn)品介紹 P-17是第八代臺(tái)式探針輪廓儀。該系統(tǒng)業(yè)界，支持對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量，其掃描可達(dá)200mm而無需圖像拼接。

摘要 產(chǎn)品介紹 Alpha-Step D-300 探針式輪廓儀支持臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D 測(cè)量。光學(xué)杠桿傳感 器技術(shù)提供高分辨率測(cè)量，大垂直范圍和低觸力測(cè)量功能。

摘要 日本KOSAKA臺(tái)階儀ET200用于測(cè)量半導(dǎo)體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層以及平板顯示等。

摘要 產(chǎn)品描述：DektakXT臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，使納米尺度的表面輪廓測(cè)量成為可能。

摘要 適用于二次元表面納米等級(jí)段差臺(tái)階測(cè)定、粗糙度測(cè)定。

摘要布魯克 DektakXT 臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）是一項(xiàng)創(chuàng)新性的設(shè)計(jì)，可以提供的重現(xiàn)性，重現(xiàn)性低于4?。臺(tái)階儀這項(xiàng)性能的提高達(dá)到了過去四十年Dektak 技術(shù)創(chuàng)新的，更加鞏固了其行業(yè)地位。通過整合其行業(yè)產(chǎn)品，DektakXT 實(shí)現(xiàn)了性能。操作簡易，從研發(fā)到質(zhì)量控制都...

摘要 臺(tái)階儀D-300/500

摘要 D-600可以對(duì)幾納米到1200µm的2D和3D臺(tái)階高度、粗糙度、應(yīng)力進(jìn)行測(cè)量。

摘要 P-17支持臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量，單次掃描高達(dá)200mm，無需圖像拼接測(cè)量。

摘要 Alpha-StepD-300探針式輪廓儀支持臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D測(cè)量

摘要 品 牌：Bruker 產(chǎn) 地：德國 型 號(hào)：DEKTAK XT

摘要 日本KOSAKA ET200 臺(tái)階儀，日本KOSAKA ET200 臺(tái)階儀配備了各種型號(hào)探針，提供了通過過程控制接觸力和垂直范圍的探頭，彩色CCD原位采集設(shè)計(jì)，可直接觀察到探針工作時(shí)的狀態(tài)，更方便準(zhǔn)確的定位測(cè)試區(qū)域。

摘要 超微力臺(tái)階儀/膜厚儀StylusSurfaceProfilometers簡介：超微力臺(tái)階儀/膜厚儀Alpha-StepIQ是探針接觸式表面輪廓儀(臺(tái)階儀.膜厚儀)

摘要 日本KOSAKAET200接觸式臺(tái)階儀日本KOSAKAET200接觸式臺(tái)階儀基于Windows操作系統(tǒng)為多種不同表面提供全面的形貌分析，包括半導(dǎo)體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層、平板顯示、觸摸屏等

摘要 布魯克DektakXT臺(tái)階儀

摘要 產(chǎn)品描述P-170是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，將行業(yè)的P-17臺(tái)式系統(tǒng)的測(cè)量性能和經(jīng)過生產(chǎn)驗(yàn)證的HRP®-260的機(jī)械傳送臂相結(jié)合

摘要 產(chǎn)品描述P-17臺(tái)式探針式輪廓儀是第八代臺(tái)式探針輪廓儀，是40多年的表面量測(cè)經(jīng)驗(yàn)的結(jié)晶

摘要 產(chǎn)品描述Alpha-StepD-600探針式輪廓儀支持臺(tái)階高度和粗糙度的2D及3D測(cè)量，以及翹曲度和應(yīng)力的2D測(cè)量

摘要 產(chǎn)品描述P-7臺(tái)式探針式輪廓儀支持從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量，適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境

摘要 產(chǎn)品描述Alpha-StepD-500探針式輪廓儀支持臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D測(cè)量

摘要 產(chǎn)品描述HRP®-260是一款高分辨率cassette-to-cassette探針式輪廓儀

摘要 產(chǎn)品描述Zeta-388光學(xué)輪廓儀是一種非接觸式3D表面形貌測(cè)量系統(tǒng)

摘要 產(chǎn)品描述Zeta-300光學(xué)輪廓儀是一種非接觸式3D表面形貌測(cè)量系統(tǒng)

摘要 產(chǎn)品描述Zeta-20臺(tái)式光學(xué)輪廓儀的配置靈活并易于使用，并集合了六種不同的光學(xué)量測(cè)技術(shù)

摘要 1.北京智能型臺(tái)階儀測(cè)試在3分鐘的定量負(fù)荷后心率變化情況，評(píng)定學(xué)生心血管功能，反映心肺機(jī)能水平 2.支持從電腦上集中一次性下載學(xué)生信息數(shù)據(jù)到主機(jī),無需人工錄入, 3.主機(jī)支持脫機(jī)測(cè)試和瀏覽/查詢,測(cè)完后可以將成績上傳到電腦上,然后

摘要 性能指標(biāo)掃描時(shí)最小正壓力:0.03mg(軟件可編程選擇和自動(dòng)控制,無需手動(dòng))

摘要 儀器名稱：臺(tái)階儀，膜厚儀，探針接觸式輪廓儀，3D輪廓儀型號(hào)美國KLA-TencorD-120檢測(cè)項(xiàng)目：1、薄膜、涂層厚度測(cè)量；2、表面粗糙度+三維形貌；3、表面粗糙度測(cè)量；4、三坐標(biāo)測(cè)量+三維形貌測(cè)量；5、2D薄膜應(yīng)力測(cè)量；6、2D彎曲度和形狀測(cè)量

摘要 簡要描述：桌面型探針式表面輪廓儀

摘要三維表面測(cè)量儀光學(xué)輪廓儀臺(tái)階儀Super Focus3000是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、國...

摘要 三維表面測(cè)量儀輪廓儀臺(tái)階儀（納米級(jí)）NanoFocus2000是用于表面結(jié)構(gòu)測(cè)量和表面形貌分析的一款檢測(cè)設(shè)備,測(cè)量精度重復(fù)性達(dá)到世界較高水平;關(guān)鍵硬件采用美國、德國、日本等;配備進(jìn)口第三方校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)件 高性價(jià)比微觀形貌測(cè)量設(shè)備;迅捷、高效的上等售后服務(wù)

摘要 臺(tái)階儀膜厚儀探針接觸式輪廓儀美國KLA，垂直分辨率:0.38A，它廣泛應(yīng)用于太陽能薄膜材料、半導(dǎo)體硅片、微電子器件、薄膜化學(xué)涂層、平板顯示器等研究領(lǐng)域。在新型薄膜材料的開發(fā)研究工作上極為重要。

摘要布魯克 DektakXT 臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）設(shè)計(jì)創(chuàng)新，實(shí)現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率，垂直高度重復(fù)性高達(dá) 5。第十代 DektakXT臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，實(shí)現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測(cè)量，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二極管...

摘要 一、儀器的功能及用途能夠在大氣環(huán)境下準(zhǔn)確地測(cè)量樣品表面臺(tái)階變化；使用金剛石（鉆石）探針接觸直動(dòng)式測(cè)量的方式來實(shí)現(xiàn)高精度表面形貌分析應(yīng)用

摘要這款三維臺(tái)階儀是德國進(jìn)口的高精度光學(xué)臺(tái)階儀器,也是一款光學(xué)表面臺(tái)階儀適合臺(tái)階高度測(cè)量,具有較低的進(jìn)口臺(tái)階儀品牌臺(tái)階儀價(jià)格,適合對(duì)表面幾何形狀和表面紋理分析,以標(biāo)準(zhǔn)方案或定制性方案對(duì)二維形貌或三維形貌表面形貌和表面紋理,微米和納米形狀,圓盤,圓度,球度,臺(tái)階高度,距離,...

摘要簡單介紹 美國KLA-Tencor AlphaStep臺(tái)階儀 膜厚儀 探針接觸式輪廓儀 D-300，它廣泛應(yīng)用于太陽能薄膜材料、半導(dǎo)體硅片、微電子器件、薄膜化學(xué)涂層、平板顯示器等研究領(lǐng)域。在新型薄膜...

摘要 P-7可以對(duì)nm-µm級(jí)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量，其掃描可達(dá)150mm而無需圖像拼接

摘要 品 牌：Bruker 產(chǎn) 地：德國 型 號(hào)：Dektak XTL

摘要 產(chǎn)品描述MicroXAM-800光學(xué)輪廓儀是一種非接觸式3D表面形貌測(cè)量系統(tǒng)

摘要 臺(tái)階儀S1400G-LCD

摘要此型工業(yè)用臺(tái)階儀基于Windows 操作系統(tǒng)為多種不同表面提供全面的形貌分析，包括半導(dǎo)體硅片、太陽能基板、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層、平板顯示、觸摸屏等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測(cè)量的方式來實(shí)現(xiàn)高精度表面形貌分析應(yīng)用。...

摘要 臺(tái)階儀集合了共焦光學(xué)形貌儀，WLI白光干涉形貌儀，原子力顯微鏡，接觸和非接觸式雙模式表面形貌檢測(cè)

摘要 探針式輪廓儀新-升級(jí)到性能德國布魯克DektakXT臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）是一項(xiàng)創(chuàng)新性的設(shè)計(jì)，可以提供更高的重復(fù)性和分辨率

摘要 德國布魯克 DektakXT 臺(tái)階儀

摘要 全自動(dòng)探針臺(tái)階儀HRP-260

摘要 D-600 探針式輪廓儀 膜厚儀 臺(tái)階儀