激光干涉儀帶來的體驗
2020-12-10標簽:激光干涉儀
現今,無論是工業界還是人們日常生活中,無不需要使用大量的光學鏡組組件,例如一些先進的激光切割或掃描設備、高分辨率攝影器材、眼鏡等。隨著應用的復雜性和精度要求的提升,對鏡組組件尤其是頻繁使用的球面鏡的加工精度要求也隨之提高。這意味著用于檢測相關組件參數的檢測儀器的精度和效率也必須進一步提高。
北京理工大學成功研發的激光差動共焦干涉組件參數測量儀器,是全球首臺能夠對球面光學元件同時進行多種參數高精度綜合測量的儀器,它不僅免除購買多臺測量儀器的需要,而且大幅減少測量中因更換儀器而反復裝調的時間。雷尼紹的XL-80系列激光干涉儀作為其中的核心組件之一,為測量儀提供穩定可靠的測長數據。
工作原理
球面鏡(透鏡表面是球面的一部分)被廣泛應用于工業、科研等范疇,特別是半導體制程中的光刻機、航天攝像系統、望遠鏡等對內部光學組件有極嚴格要求的應用,每個組件的微小加工誤差對系統的成像質量都有著極大的影響(球面鏡圖解如圖1所示,)。在北京理工大學成功開發激光差動共焦干涉組件測量儀之前,市場上沒有能同時進行相關參數測量的儀器。
在解釋激光干涉儀的結構和工作原理時,北京理工大學光電學院教授趙維謙教授說:“我們應客戶的要求來定制不同規格配置的測量儀器,基本機構主要由差動共焦干涉測量主機(包含差動共焦干涉光路)、標準透鏡、氣浮導軌、多維調整架、機電移動平臺和雷尼紹XL-80激光干涉儀組成。差動共焦干涉測量主機向被測鏡射出測量光束并聚于標準透鏡焦點處,被測透鏡通過多維調整架架設在氣浮導軌上,由機電移動平臺帶動調整架與被測透鏡沿光軸方向移動。當測量光束匯聚點與被測透鏡前表面頂點或后表面頂點重合時,光束由被測鏡表面反射,沿路返回進行數據分析,同時測長激光干涉儀(XL-80)實時采集被測透鏡的位置坐標數據。
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