Zeta電位儀

摘要 DJS-292型雙顯恒定電位儀（帶RS-232）

摘要微電泳儀（zeta電位儀）JS94系列可用于測定分散體系顆粒物的固－液界面電性（ζ電位），也可用于測量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測定等電點、研究界面反應過程的機理。通過測定顆粒的Zeta電位，求出等電點，是認識顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段...

摘要 多功能ORP氧化還原電位儀

摘要納米粒徑及Zeta電位分析儀Nicomp Z3000采用*的設計理念優化結構設計，充分有效地融合了動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）和電泳光散射（ELS）技術，即可以多角度（步長0.9μm;）檢測分析液態納米顆粒系的粒度及粒度分...

摘要 產品名稱：恒電位儀產品型號：DJS-292系列可廣泛應用于電極過程動力學、化學電源、電鍍、金屬腐蝕、電化學分析及有機電化學合成等方面的研究。

摘要氧化還原電位分析儀可透過數位通訊界面直接連接,提供簡單、可靠、節省成本的現場感測器監測資料,ORP 分析儀并具備遠端狀態顯示、 校正、設定及故障診斷功能。 IP68 等級防塵防水強固型外殼,1500N高強度克維拉電纜,傳訊距離遠可達 1.2 公里以上,氧化還原電位計可...

摘要 Horiba納米粒度儀SZ100

摘要 CHI1200C掌上恒電位儀/雙恒電位儀

摘要【上海沃瓏儀器】Metrohm910PSTATmini便攜式雙恒電位儀是一款由計算機控制的便攜式恒電位儀，可應用于電化學活性成分定量分析和電化學研發。配套的PSTAT軟件簡便直觀，能提供各種主要的電化學測試技術。采用一次性絲網印刷電極，經濟高效，可以直接應用，無需任何...

摘要 主要方法： 線性掃描伏安法；線性掃描循環伏安法；線性掃描溶出伏安法；差示脈沖伏安法；差示脈沖循環伏安法；差示脈沖溶出伏安法；開路電位測量；電流--時間曲線等。

摘要 KMCP-Ⅱ型精密恒電位儀廣泛應用于電解、電冶金、化學電源、金屬腐蝕與防護、教學等領域。

摘要 葉綠素測定儀SPAD-502葉綠素含量測定儀用途：可以即時測量植物的葉綠素相對含量或“綠色程度”，從而可以了解植物真實的硝基需求量并且幫助您了解土壤硝基的缺乏程度或是否過多地施加了氮肥。您可以通過這種..

摘要CMBP-1型雙恒電位儀主要與旋轉環盤電極配套用于研究氧化還原反應的機理和動力學，亦可作為單恒電位儀應用于普通的兩電極或三電極系統，儀器控制精度高、功能強、穩定性好，是極譜分析、腐蝕研究的理想儀器。技術指標：* 給定電壓：4V* 額定輸出電流：電極Ⅰ：-1A～+1A　...

摘要MCP-1型恒電位儀具有控制電位或控制電流的陰、陽極極化曲線、循環伏安曲線、常規極譜分析自腐蝕電位等方法，測試結果由三位半LED顯示，配用X-Y函數記錄儀記錄實驗曲線。技術指標：* 恒電位范圍：5V* 恒電流范圍：1A* 大槽壓：25V* 輸入阻抗：＞1010 * 電...

摘要CH-1型恒電位儀，采用三電極系統電解池，給定電位、補償電流及所測電流由LED顯示。與掃描電壓發生器相連就是一臺高精度伏安儀，在x-y函數記錄儀上可記錄電流--電位曲線。技術指標：* 給定電位：0～3.00V* 補償電流：1pA～20A* 測量范圍：1pA～1.999...

摘要 產品描述：zeta電位儀可用于測定分散體系顆粒物的固－液界面電性（ζ電位），也可用于測量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測定等電點、研究界面反應過程的機理。通過測定顆粒的Zeta電位，求出等電點，是認識顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。

摘要 數字恒電位儀 可同時顯示電流和恒電位值,廣泛應用于電化學分析及有機電化學合成等方面。恒電流范圍：-1.0000A～1.0000A1A、200mA、20mA、2mA、200uA、20uA、2uA 分檔

摘要 土壤氧化還原電位儀除了測定pH外還有測定mV（氧化還原電位）和溫度的功能。外形圖如照片所示。

摘要 MBP-1型雙恒電位儀主要與旋轉環盤電極配套用于研究氧化還原反應的機理和動力學，亦可作為單恒電位儀應用于普通的兩電極或三電極系統，儀器控制精度高、功能強、穩定性好，是極譜分析、腐蝕研究的理想儀器。

摘要 CH-1型恒電位儀，采用三電極系統電解池，給定電位、補償電流及所測電流由LED顯示。與掃描電壓發生器相連就是一臺高精度伏安儀，在x-y函數記錄儀上可記錄電流——電位曲線。

摘要Zetasizer Nano ZS是Malvern Zetasizer Nano系列中的，能夠測量所有三項參數，而且性能絲毫不減。Nano ZS、Z及ZS90都可以使用的折疊式可拋棄型毛細管樣品池來測量zeta電位，避免樣品之間的交叉污染.所有系統均可與MPT-2自動...

摘要Zetasizer Nano ZSE納米粒度電位儀是一臺高性能雙角度顆粒粒度及分子大小分析儀，采用動態光散射法，結合“NIBS“光學器件，可增強對聚集體的檢測，還可測量小尺寸或稀釋樣品，以及極低濃度或高濃度樣品。 ZSE還包含了電泳光散射法表征顆粒、分子的zeta電位...

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摘要 高分辨率納米粒度和Zeta電位分析儀是基于動態光散射（DLS）和激光多普勒電泳（LDE）技術，提供高分辨率，和快速的粒度和zeta電位測試和遠程原位測試。

摘要 法國WALLIS 多普勒電泳高分辨率Zeta電位分析儀具有的分辨率，用于研究膠體溶液的穩定性和性質，并且可以和其它分析手段聯用。為制藥行業的反應監測和藥瓶中的蛋白質聚集體納米階段的生成監控，

摘要ZetaCAD固體表面Zeta電位分析儀是直接測定流動電位/流動電流的Zeta電位分析儀，幫助科研人眼在化學于材料科科學領域內改善和調整表面特征。適用于沉積的大顆粒、纖維、和平坦的表面，或在一個壓力梯度下電解液科研透過的曲面膠或中空纖維樣品，包括聚合物、紡織、陶瓷、玻...

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摘要 DT-330 固體表面電位儀許多的科學家把聲學應用到膠體體系中，我們常提及的名字:斯托克斯，瑞利，麥克斯韋，亨利，廷德爾，雷諾，德拜。通過聲學和電聲學手段會提供關于顆粒表征的三個重要領域的信息: 粒徑分布，流變學和電動學。

摘要 納米粒度和Zeta電位分析儀是用于表征分散型樣品和溶液中納米顆粒以及微米顆粒的儀器。它可通過測量動態光散射 （DLS）、電泳光散射 （ELS） 和靜態光散射 （SLS） 來測定顆粒尺寸、zeta電位和分子質量。

摘要 法國Bio-logic 強電流恒電位儀 HCP-1005是一個緊湊的強電流恒電位儀，專門為具有高容量的二次電池研究而設計

摘要 BiStat 3200 高品質雙通道恒電位儀法國*產品,主要用于: 儲能, 傳感器, 電鍍, 腐蝕及電池的研究，滿足苛刻的應用研究要求。

摘要 經濟型單通道恒電位儀/恒電流儀SP-150是一款全功能的經濟型研究級恒電位儀/恒電流儀。憑借其模塊化的機箱，此儀器可以定制，以滿足傳統電化學領域的所有應用程序。

摘要DT-1202 超聲粒度和zeta電位分析儀美國分散科技公司（DTI）專注于非均相體系表征的科學儀器業務。DTI開發的基于超聲法原理的儀器主要應用于在原濃的分散體系中表征粒徑分布、zeta電位、流變學參數、固體含量、孔隙率，包括CMP漿料，納米分散體，陶瓷漿料，電池漿...

摘要 DT-300 電聲法Zeta電位儀許多的科學家把聲學應用到膠體體系中，我們常提及的名字:斯托克斯，瑞利，麥克斯韋，亨利，廷德爾，雷諾，德拜。。。。。。通過聲學和電聲學手段會提供關于顆粒表征的三個重要領域的信息: 粒徑分布，流變學和電動學。

摘要 DT-310電聲法Zeta電位儀Zeta電位儀：許多的科學家把聲學應用到膠體體系中，我們常提及的名字:斯托克斯，瑞利，麥克斯韋，亨利，廷德爾，雷諾，德拜。。。。。。通過聲學和電聲學手段會提供關于顆粒表征的三個重要領域的信息: 粒徑分布，流變學和電動學。

摘要502型顯微電泳法Zeta電位儀●通過傳統微電泳方法測量膠體顆粒的zeta 電位。與激光光散射法相比，沒有黑盒子。●502的*的超顯微鏡設計提供了一個高對比度的圖像，即使是納米粒子。依賴于顆粒對懸浮介質的相對折射率不同，可測量小至20nm的顆粒。●高水平的激光光學系統...

摘要 電位儀可廣泛應用于電極過程動力學、化學電源、電鍍、金屬腐蝕、電化學分析及有機電化學合成等方面的研究

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摘要 粒徑分析儀采用專門的電動聲波振蕩技術，該儀器可完成非凡的電動測量結果，從而避免了傳統的微電泳技術的許多限制和局限，該儀器可同時測量Zeta電位、PH、電導、溫度等指標。樣品在測量時甚至可以進行滴定操作；

摘要 Zeta Probe高濃度Zeta濃漿電位儀公司技術－多頻電聲學測量技術測量膠體體系的Zeta電位。對于高達60％（體積）濃度的樣品，無需進行樣品稀釋或前處理即可直接測量。這一特點對鈦、油墨、色漿、CMP研磨漿料等高濃度體系的研究極為關鍵。

摘要 ZetaPlus Zeta電位分析儀它的革新之處是從根本上消除了傳統Zeta電位測量儀器中固有的電滲誤差的影響，從而使測量變得準確而方便。

摘要 ZetaPALS 高靈敏度Zeta電位分析儀這就是因為其電泳遷移率比通常水相條件下低10－1000倍，傳統方法沒有足夠的靈敏度進行測量，ZetaPALS的出現為他們提供了準確可信的測量技術。