JSM-6510LA 掃描電子顯微鏡 元素分析儀EDS 返回列表頁

設計的超級圓錐型物鏡，保證3nm的分辨率。很容易得到高質量照片。

廣域掃描線圈可以得到zui低5倍的放大倍數從而提高觀察樣品的效率。

優秀的電子光學系統可以在大束流下形成小束斑，有利于微區分析。

JSM6510系列超級圓錐形物鏡，在工作距離8mm時的分辨率為3nm，超級圓錐形物。

外形設計可以做到短工作距離情況下，樣品仍然可以大角度傾斜。

JEOL開發的全自動電子槍能夠產生極小電子束源，只要選擇好加速電壓，就可以進行觀察或成分分析。

電子槍偏壓是調節電子槍亮度的重要部件。JEOL的無縫自給加壓系統能隨著電壓變化隨時調整偏壓，使得無論選擇哪個加速電壓，都能得到亮度。

JEOL的像散記憶功能能夠自動糾正隨加速電壓或工作距離改變而產生的像散。

雙實時顯示模式可以用于不同信號圖像的對比，用戶可在觀察表面形貌的同時了解樣品的成份分布情況。

選用多種圖像顯示模式時，點擊“PHOTO"按紐可同時獲得并存儲2或3幅全屏尺度圖像。

簡單易懂的操作接口及菜單

操作接口簡單，直觀，默認的操作接口顯示了的功能按鈕，并以簡單圖文標明，點擊鼠標即可操作所有功能。

實時量測，圖片上的長度和角度等結構細節能在顯示器上進行測量。

可變焦聚光鏡修正

做表面觀察和元素分析等不同應用時，選擇合適束流非常重要，一般是通過聚光鏡與物鏡光闌來控制電子束流的。

如果在調整束流過程中，焦點和觀察區域位移變化很小，調整起來會比較方便。JEOL的可變焦聚光鏡可以保證這一點。

全對中樣品臺

當樣品臺傾斜時，全對中樣品臺可使圖像位移和焦點變化最小。

使用此樣品臺可多方向觀察粗糙表面樣品，采用一些不同角度攝取的圖片組成立體圖片，可通過立體圖片觀察深度。

低真空SEM

低真空掃描電鏡，除了包括高真空模式外，還包括低真空模式，在低真空模式下，不導電樣品以及容易放氣的樣品都可以直接觀察。

結合JEOL的冷凍干燥技術，可在低真空模式下快速觀察含水樣品。