SPECTRAN相位分析儀SPH-20 返回列表頁

SPECTRAN相位分析儀SPH-20

SPECTRAN相位分析儀SPH-20，相位分析儀設(shè)計(jì)用于測量有源和無源射頻和微波設(shè)備的相位特性。

該產(chǎn)品在開發(fā)、制造和出廠檢驗(yàn)過程中提供實(shí)驗(yàn)室和車間條件下的微波晶體管、功率放大器、移相器參數(shù)的控制和測量。

應(yīng)用

電信

測試和測量設(shè)備

研究實(shí)驗(yàn)室

特征

特征

頻率范圍0.2 ... 20 GHz

相移測量范圍，度-180° ... +180°

相移測量誤差，度± (1 + 0,1 F + 0,05 А),

F – 頻率, GHz

А – 傳輸比, dB

輸入功率10分貝

電源消耗< 300 瓦

工作溫度+5..+40°C

方面257 x 266 x 167 毫米

重量8.2 公斤

控制USB、LAN、SPI、并行