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產品簡介
詳細介紹
一、產品描述
SJ5718-R小型粗糙度測量儀是一款表面粗糙度測量儀器；采用進口高精度光柵測量系統、高精度研磨導軌、高性能伺服電機系統、精密微小測力系統、高性能粗糙度測量模塊、高性能計算機控制系統技術，實現對各種工件表面粗糙度的測量和分析。通過高精度研磨導軌、高性能直線電機保證測量的高穩定性及直線度，采用進口高精度光柵測量系統建立工件表面粗糙度微觀輪廓的二維坐標，計算機通過修正算法對光柵數據進行修正，最終還原出工件粗糙度信息并以曲線圖顯示出來，通過軟件提供的分析工具可對粗糙度進行各種參數分析。
SJ5718-R為全自動測量設備，操作者只需裝好被測工件，在檢定軟件上設定掃描的開始、結束位置，點擊【開始】按鈕，測針會自動接觸工件表面，并按設定的位置掃描；可高精度地測量精密加工零部件的粗糙度形狀，再選擇所需評價參數即可進行評價。
系統軟件為簡體中文操作系統，操作方便。
二、產品功能
1.表面粗糙度評定：
(1)Ra,Rp,Rv,Rz,Rt,Rmax,Rq,Rsk,Rku,RSm,RPc,Rdq,Rdc,Rmr；
(2)P（Pt/Pa）等參數、W參數等多參數評定；
(3)Motif參數、Rcore核心參數的評定。
2.濾波：2RC濾波，高斯濾波和零相位濾波；
3.界面友好，更符合中國用戶操作習慣；
4.測量記錄采用集中式數據庫管理，可按被測件類型、生產單位、出廠編號、檢測員、送檢單位、設備編號、檢定日期和有效日期等查詢和管理測量記錄；
5.輸出多種格式報表(.doc，.docx，.xlsx，.pdf)，并支持的自定義報表，定制測量記錄報表，可批量打印記錄表，具有數據備份和還原數據庫功能；
6.具有強大的CNC功能，能進行一系列高效率的CNC測量及分析，具備SPC分析功能；
7.成熟簡單的標定，儀器自帶高精度標定多刻線樣塊，可對儀器的精度和測針磨損進行精確補償；
三、性能特點
1、高精度、高穩定性、高重復性：滿足被測件測量精度要求
1)選用的高精度光柵測量系統和高精度電感測量系統，測量精度高；
2)自主研發高精度研磨導軌系統，導軌材料耐磨性好、保證系統穩定可靠工作；
3)高性能直線電機驅動系統，保證測量穩定性高、重復性好。
2、智能化管理與檢測軟件系統：
儀器操作界面友好，操作者很容易即可基本掌握儀器操作，使用十分簡便。
1)公司多年積累的實用測量軟件設計經驗，向客戶提供簡潔、實用、快速的操作體驗；
2)公司投入多年人力研發儀器軟件，具有專用的軟件著作權；
3)功能強大、自動處理數據、打印各種格式的報告，自動顯示、打印、保存、查詢測量記錄；
數據可存檔，或集中打印，不占用檢定操作時間；
4)測量范圍廣，可滿足幾乎所有類型的工件粗糙度測量、包括特殊薄膜臺階高度的測量功能；
5)可自動和手動選取被測段進行評定，可依據客戶要求進行軟件功能的定制；
6)強大的CNC自動測量及自動標注分析功能；
針對同類型大批量的工件，能進行CNC測量，自動分析處理數據，并將數據進行SPC統計，能進行多種方式統計分析，給予品質控制指導；
7)采用計算機大容量數據庫儲存，可自動記錄保存所有檢定結果。
3、可進行多參數評定
粗糙度可依據不同標準進行自動評價，包含Ra,Rp,Rv,Rz,Rt,Rmax,Rq,Rsk,Rku,RSm,RPc,Rdq,Rdc, Rmr及P參數、W參數、Motif參數、Rcore核心參數等多參數評定。
4、厚度參數測量
粗糙度參數測量的同時可同時測量600微米以內的一些薄膜臺階高度、厚度尺寸，測量方便，精度控制在2%H（H，測量總高度）以內，特別適合高精度且不能有刮傷的測量場合。
5、智能保護系統：
儀器在各個方向都有進行硬件及軟件保護，能有效的保護儀器主機及測針，降低人員因操作失誤帶來的測針及儀器損傷。
6、靈活手動控制：
儀儀器配置了特殊分離式操作桿，操作桿在儀器操作移動時，可放置在任何位置控制操作，在測量工件前對測針進行粗定位；在脫離電腦的情況下，操作桿具備左右/上下移動測針、急停、測桿上下角度擺動及速度分多級調節功能。
四、技術參數
| 型號 | SJ5718-R | ||
| 粗糙度參數 | 測量 范圍 | X軸 | 0~100mm |
| Z軸 | 0~300mm | ||
| 移動速度 | X軸 | 0~20mm/s | |
| Z軸 | 0~20mm/s | ||
| 直線度（X掃描軸） | ≤0.3μm/50mm，≤0.5μm/100mm | ||
| 測力 | 約1~2mN | ||
| 測量范圍 | Z0軸 | ±20µm~±400µm | |
| 傳感器類型 | 無軌式 | ||
| 適用測量范圍 | Ra0.1μm~Ra64μm | ||
| 分辨率 | X軸/ Z0軸 | 分辨率0.001μm | |
| 測量精度 | 示值誤差 | ≤±（5nm+2.5%A）μm | |
| 重復性 | ≤1nm（0.1-0.2μm方波粗糙度樣塊、標準臺階塊) | ||
| 掃描速度 | 0.05～0.5mm/s | ||
| 殘值噪聲/殘余輪廓 | ≤0.005μm | ||
| 測量參數 | R粗糙度： Ra,Rq,Rz,Rmax,RPc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,RSm,Sm,S,Rsk,Rku,Rdq,Rdc,Rmr, 核心粗糙度: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo P輪廓參數：Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq, Pdc, PPc,Pmr, W波度輪廓參數：Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr Motif參數：R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte,Nr,Ncrx,Nw,Cpm,CR,CF,CL | ||
| 濾波器 | 高斯濾波器、2RC濾波器，相位修正濾波器 | ||
| 濾波長度 | 0.08、0.25、0.8、2.5、8.0、25mm可選 | ||
| 評定長度 | λc×3、4、5、6、7、8可選 | ||
| 儀器尺寸（長×寬×高） | 600×350×850（mm） | ||
| 儀器重量 | 約95Kg | ||
懇請注意：因市場發展和產品開發的需要，本產品資料中有關內容可能會根據實際情況隨時更新或修改，恕不另行通知，不便之處敬請諒解。
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