冷熱沖擊試驗(yàn)箱是針對(duì)電子產(chǎn)品在工作的時(shí)候遇到環(huán)境溫度的瞬間變化的性能測(cè)試的一個(gè)重要設(shè)備

特點(diǎn)分高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分，測(cè)試樣品放置測(cè)試區(qū)*靜止，采用*之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)，強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測(cè)試區(qū)，完成冷熱溫度沖擊測(cè)試； 可由測(cè)試孔外加負(fù)載...

分高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分，測(cè)試樣品放置測(cè)試區(qū)*靜止，采用*之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)，強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測(cè)試區(qū)，完成冷熱溫度沖擊測(cè)試； 可由測(cè)試孔外加負(fù)載配線...

特點(diǎn)分高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分，測(cè)試樣品放置測(cè)試區(qū)*靜止，采用*之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)，強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測(cè)試區(qū)，完成冷熱溫度沖擊測(cè)試； 可由測(cè)試孔外加負(fù)載...

快速溫度變化箱適用于電子電工產(chǎn)品、儀器儀表、原材料、電子元件等高低溫適應(yīng)性試驗(yàn)、低溫恒溫及儲(chǔ)存；特別適用于快速溫度變化或溫變慚變環(huán)境下的適應(yīng)性試驗(yàn)。

特點(diǎn)分高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分，測(cè)試樣品放置測(cè)試區(qū)*靜止，采用*之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)，強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測(cè)試區(qū)，完成冷熱溫度沖擊測(cè)試； 可由測(cè)試孔外加負(fù)載...