DP-JB4060型射線檢測儀，適用于α，β輻射表面污染檢測，同時也適用與X、γ輻射劑量率的監測。儀器采用口蓋革探測器，具有較的探測效率；是環境實驗室、核醫學、分子生物學、放射化學、核原料運輸、儲存和商檢等域行α，β輻射表面污染檢測或X，γ輻射防護監測的理想儀器，該儀器采用單片機控制，LCD液晶顯示，讀數清晰、操作方便。

點

1. 口蓋革探測器，探測效率

2. 可測量α、β、γ、X射線

3. 可移動金屬屏可在β/γ混合場中用于區分β和γ

4. 便攜式，體化，重量輕

5. 單片機控制，軟件功能強

6. LCD液晶顯示，會話式操作界面

7. 計數率顯示CPM、CPS、μSv/h

8. 電池失效報警

主要指標

1. 計數范圍：1～1000000

2. 探測器：鹵素-水淬式蓋革-彌勒計數管（口）。有效直徑：45mm；

3. 云母薄片密度：1.5-2.0mg/cm2

4. 靈敏度：α表面活度響應>1.7s-1Bq-1cm2
β表面活度響應>1.7s-1Bq-1cm2
γ≥500CPM/μSv·h-1（對137Cs）

5. 劑量率范圍：0.01～2500.00µSv/h

6. 儀器本底：每分鐘計數≤60CPM

7. 相對誤差：測量范圍內相對基本誤差≤15%

8. 供電電源：2節1.5v普通5號電池，整機電流≤50mA

9. 溫度范圍：-10℃～45℃

10. 濕度范圍：相對濕度≤90%（40℃）

11. 尺寸重量：0.7kg;23×13×4.5（cm ）

X、γ輻射劑量率儀型號;DP-JB4060產品介紹

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