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一、投影立式光學(xué)計(jì)用途光學(xué)計(jì)的主要用途是利用量塊與零件相的方法，來測量物體外形的微差尺寸，是計(jì)量室、檢定站常用之量具。
數(shù)字式立式光學(xué)計(jì)技術(shù)參數(shù)：1、被測件大長度：200 mm2、直接測量范圍：10mm3、小顯示值：0.1 μm4、測量力：(2±0.2) N
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