半導體粉末電阻率測試儀/粉末電阻率測試儀DP-FZ-2006

半導體粉末電阻率測試儀/粉末電阻率測試儀 型號：DP-FZ-2006

本儀器是為了適應當前迅速發展中的分子半導電納米材料電阻率測試需要,參照有關際標準的。 儀器的電流輸出為 10 μA - 100 mA ，電阻率測試范圍為 10 ^-2 - 10 ⁵ Ω cm ，直接采用數字顯示。儀器的可靠性和

穩定性大大增強，更方便于用戶， 而且價格低廉、實惠。配置不同的測試架可以對半導體粉末、分子納米粉末和固態金屬行電阻、電阻率多用途的測量。

適用于有機、無機半導體粉末材料(包括納米)的電阻率測量, 也可以測量固體半導體材料，別適合于太陽能多晶硅、硅粉質量的測量、分選和質量控制. 電阻率值直接數字顯示由具有精度加壓系統, 度測量的測試臺和儀器組成.

儀器主要包括電氣箱和測試架兩部分，電氣測試部分由精度直流數字電壓表和直流恒定電流源組成。測試架為壓力傳感器，加壓機構和粉末標準容器組成。壓力機構采用手動操作、壓力平穩。本儀器具有測量精度，穩定性好，重復性好，使用方便等點， 并有自校功能。

本儀器采用際通用的電流-電壓降法即四端子測量法，可以消除電與粉末接觸產生的接觸電阻誤差，還可以消除聯接系統所帶來的誤差，克服了以往傳統的二端測量粉末電阻率儀器的弊病，真實、準確地測量出粉末樣品的電阻率，因此重復性好。

本儀器適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、等院校、科研、是檢驗和分析固態、粉態和納米樣品質量的種重要工具。

參數；

1. 測量范圍：
   • 電阻 10^-4 - 10⁵ Ω, 分辨率 10^-4 Ω
   • 電阻率 10^-4 - 10⁵ Ω.cm，分辨率 10^-4 Ω.cm

測量誤差 ±（0.3% 讀數 + 2 字）

2. 測量電壓量程：20mV, 200mV, 2V，分辨率 10 μV
   測量精度: ±（0.3% 讀數 + 2 字）
3. 測量電流：0 - 100 mA 連續可調，
   電流量程：10 μA, 100 μA, 1 mA, 10 mA, 100mA
4. 試樣粒度：40 目以下 - 60 目以上（標準篩網）納米粉末
5. 試樣容器：內腔Φ16.30 ± 0.1mm
6. 試樣度：16mm ± 0.5mm
   測量誤差：±0.1mm
7. 取樣壓力：4 Mpa ± 0.05 Mpa ( 40 kg/cm2 ± 0.5 kg/cm2)
   壓力量程：0 - 100 kg 可調
8. 顯示方式: 電阻、電阻率、壓力為 3 1/2 數字顯示,并自動顯示單位和小數點
9. 電源：220 ± 10% , 50HZ-60HZ, 功率消耗 < 150W 消耗
10. 外形尺寸電氣箱：440mm×120mm×320mm
11. 備有粉末測試架和固態標準樣品測試臺供選用