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雙棱鏡光干涉實(shí)驗(yàn)儀 光干涉實(shí)驗(yàn)儀 型號：DP-SGS-II
1826年法科學(xué)家菲涅耳(Fresnel)用雙棱鏡將束相干光的波前分成兩部分，形成分波面干涉，利用測量干涉條紋間距(毫米量),求得光的波長(納米量)。此光干涉實(shí)驗(yàn)的物理思想、實(shí)驗(yàn)方法與測量技巧,具有很深的教學(xué)價(jià)值。
儀器點(diǎn)：
● 導(dǎo)軌和轉(zhuǎn)盤采用強(qiáng)度鋁合金材料、燕尾槽結(jié)構(gòu)、轉(zhuǎn)盤靈活、不會(huì)生銹、經(jīng)久耐用。
參數(shù)：
● 導(dǎo)軌：長80.0cm，分度值1mm；
● 滑塊5只，其中1個(gè)滑塊上帶轉(zhuǎn)動(dòng)裝置；
● 帶轉(zhuǎn)盤的狹縫，縫寬0.03-0.04mm；
● 測微目鏡和支架，測微目鏡量程0-8mm，分度值0.01mm；
● 光源：半導(dǎo)體激光器，光波長650.0nm，工作電壓直流3V。
實(shí)驗(yàn)內(nèi)容：
● 觀察雙棱鏡的干涉現(xiàn)象；
● 測量激光器的波長。
（注：鈉光燈及電源選配）。
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