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通過測(cè)量作物冠層PAR值提供了關(guān)于影響田間作物生長的限制因素的有價(jià)值的信息，如葉面積指數(shù)（LAI）；SunScan探測(cè)器也可被用來描繪作物冠層PAR的分布圖。
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