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晶圓THK膜厚厚度測量系統參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000晶圓THK膜厚厚度測量系統兼容不同材質不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數據更準確。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓厚度測量系統無圖晶圓幾何量測系統晶圓測量系統晶圓膜厚測量系統晶圓THK

2025/7/25 9:16:38164
全自動晶圓厚度測量設備參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000全自動晶圓厚度測量設備兼容不同材質不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數據更準確。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓厚度測量設備無圖晶圓幾何量測系統晶圓測量設備晶圓翹曲度測量設備晶圓量測系統

2025/6/27 10:11:22268
無圖晶圓粗糙度測量設備參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000無圖晶圓粗糙度測量設備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有效防...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測系統晶圓測量設備晶圓粗糙度測量設備晶圓粗糙度測量設備晶圓翹曲度測量設備

2025/6/3 10:10:37249
Wafer晶圓厚度量測系統參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000系列Wafer晶圓厚度量測系統采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技術，完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像，實現Wafer厚度、翹...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓厚度量測系統晶圓測量設備無圖晶圓幾何量測系統半導體晶圓晶圓膜厚測量系統

2025/5/27 15:49:53366
晶圓制造翹曲度厚度測量設備參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000晶圓制造翹曲度厚度測量設備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓翹曲度測量晶圓厚度測量晶圓測量設備晶圓幾何形貌測量系統晶圓形貌測量設備

2025/5/13 10:46:19319
半導體晶圓表面形貌量測設備參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
中圖儀器WD4000系列半導體晶圓表面形貌量測設備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

半導體量測設備晶圓量測設備晶圓形貌量測設備無圖晶圓幾何量測系統表面形貌測量儀

2025/4/21 10:07:37428
晶圓表面形貌量測系統參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000晶圓表面形貌量測系統通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓量測系統晶圓測量設備無圖晶圓幾何量測系統半導體測量設備厚度測量系統

2025/4/11 10:23:06436
半導體晶圓wafer厚度測量設備參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000半導體晶圓wafer厚度測量設備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓wafer測量設備晶圓厚度測量設備半導體測量設備晶圓測量設備無圖晶圓幾何量測設備

2025/3/18 10:32:58597
無圖晶圓幾何量測系統參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000無圖晶圓幾何量測系統非接觸厚度、三維維納形貌一體測量。它通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度，TTV，BOW...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓量測系統無圖晶圓幾何量測系統晶圓測量設備晶圓形貌測量系統翹曲度測量儀

2025/3/10 15:50:32892
晶圓厚度翹曲度量測系統參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000晶圓厚度翹曲度量測系統通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有效防...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓厚度測量儀晶圓翹曲度測量儀無圖晶圓幾何量測系統晶圓量測系統晶圓測量設備

2025/3/10 15:02:521125
晶圓幾何參數測量設備參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000晶圓幾何參數測量設備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓測量設備晶圓幾何測量設備無圖晶圓幾何量測系統晶圓形貌測量設備晶圓檢測設備

2025/3/10 14:33:55781
晶圓表面形貌高效測量分析系統參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000晶圓表面形貌高效測量分析系統采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技術，完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像，實現Wafer厚度、翹曲...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓形貌測量系統晶圓幾何量測系統無圖晶圓幾何量測系統晶圓測量設備半導體晶圓檢測

2025/3/10 14:01:29942
晶圓硅片厚度測量儀參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000晶圓硅片厚度測量儀采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技術，通過非接觸測量，在有效防止晶圓產生劃痕缺陷同時實現Wafer厚度、翹曲度、...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓厚度測量儀硅片厚度測量儀測厚儀無圖晶圓幾何量測系統晶圓測量設備

2025/3/10 13:32:121011
晶圓硅片表面3D量測系統參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000晶圓硅片表面3D量測系統采用光學白光干涉技術、精密 Z 向掃描模塊和高精度 3D 重建算法，Z 向分辨率最高可到 0. 1nm。它通過非接觸測量，將...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓量測系統無圖晶圓幾何量測系統硅片量測系統晶圓測量系統晶圓檢測設備

2025/3/10 12:39:421070
晶圓制程幾何尺寸量測設備參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000晶圓制程幾何尺寸量測設備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有效...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測系統晶圓量測設備晶圓幾何量測設備半導體晶圓測量晶圓測量設備

2025/3/10 12:04:43972
半導體晶圓幾何形貌量測設備參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
中圖儀器WD4000半導體晶圓幾何形貌量測設備兼容不同材質不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數據更準確。它通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓幾何量測設備晶圓形貌量測設備半導體晶圓量測無圖晶圓幾何量測系統晶圓檢測設備

2025/3/10 11:12:121087
晶圓表面粗糙度測量儀器參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
中圖儀器WD4000晶圓表面粗糙度測量儀器兼容不同材質不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數據更準確。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓粗糙度測量儀晶圓表面測量儀無圖晶圓幾何量測系統晶圓形貌測量儀器半導體晶圓測量儀

2025/3/10 10:37:301115
半導體晶圓量測設備參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000半導體晶圓量測設備兼容不同材質不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數據更準確。自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測系統半導體量測設備晶圓檢測設備晶圓形貌測量設備晶圓測量設備

2025/3/10 10:12:231300
晶圓幾何形貌測量及參數自動檢測機參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000系列
WD4000晶圓幾何形貌測量及參數自動檢測機采用高精度光譜共焦傳感技術、光干涉雙向掃描技術，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實現晶圓厚度、TTV、...
型號： WD4000系列品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓幾何測量機晶圓形貌測量機無圖晶圓幾何量測系統晶圓形貌測量系統晶圓形貌檢測機

2025/3/10 9:49:541304
無圖晶圓厚度翹曲度測量設備參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000無圖晶圓厚度翹曲度測量設備兼容不同材質不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數據更準確。它可實現砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測設備晶圓厚度測量設備晶圓翹曲度測量設備晶圓測量設備晶圓形貌測量設備

2025/3/10 9:09:041180
晶圓厚度翹曲度測量系統參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000晶圓厚度翹曲度測量系統通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，在高效測量測同時有效防止晶圓產生劃痕缺陷。它采用高精度光譜共焦傳感技術、光干涉雙向掃...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓測量系統晶圓厚度測量系統晶圓翹曲度測量系統無圖晶圓幾何量測系統晶圓形貌測量系統

2025/3/10 8:34:04842
晶圓多維度特征檢測設備參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000晶圓多維度特征檢測設備系統自動測量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。可實現砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓檢測設備無圖晶圓幾何檢測設備晶圓量測設備晶圓形貌測量設備晶圓幾何形貌檢測設備

2025/3/10 8:04:28905
半導體晶圓厚度高精度測量系統參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000系列半導體晶圓厚度高精度測量系統通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓測量系統晶圓厚度測量系統無圖晶圓幾何量測系統晶圓形貌測量系統晶圓幾何量測系統

2025/3/10 7:31:27936
晶圓厚度表面粗糙度微納三維形貌量測系統參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
WD4000晶圓厚度表面粗糙度微納三維形貌量測系統采用高精度光譜共焦傳感技術、光干涉雙向掃描技術，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實現晶圓厚度、T...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓厚度量測系統晶圓粗糙度量測系統晶圓形貌量測系統無圖晶圓幾何量測系統半導體晶圓檢測機

2025/3/9 20:59:24908

深圳市中圖儀器股份有限公司

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