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PPX3040L便攜手持式X光檢測成像儀，搭配高分辨率的平板探測器，可進行高清成像，具有較小的盲區，底部盲區不超過6mm，支持多點觸控操作，平板探測器具有42A...
PPX3040S手持式X光射線機采用高靈敏非晶硅成像系統，探測器可探測到0.1mm的小顆粒，探測厚度不小于12mm，底部盲區不到7mm，探測面積達到1200平方...
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