考種分析儀恒美可以測量各種表面光滑的籽粒的數量、千/百粒重與平均粒型（包括長、寬、長寬比、周長、面積），利用圖像ORC 識別技術、圖像定位、空間轉換等技術實現快...

千粒重儀可以測量各種表面光滑的籽粒的數量、千/百粒重與平均粒型（包括長、寬、長寬比、周長、面積），利用圖像ORC 識別技術、圖像定位、空間轉換等技術實現快速識別...

恒美考種系統可以測量各種表面光滑的籽粒的數量、千/百粒重與平均粒型（包括長、寬、長寬比、周長、面積），利用圖像ORC 識別技術、圖像定位、空間轉換等技術實現快速...

恒美玉米考種分析系統可以測量各種表面光滑的籽粒的數量、千/百粒重與平均粒型（包括長、寬、長寬比、周長、面積），利用圖像ORC 識別技術、圖像定位、空間轉換等技術...

自動考種分析儀及千粒重系統可以測量各種表面光滑的籽粒的數量、千/百粒重與平均粒型（包括長、寬、長寬比、周長、面積），利用圖像ORC 識別技術、圖像定位、空間轉換...

恒美智能考種儀可以測量各種表面光滑的籽粒的數量、千/百粒重與平均粒型（包括長、寬、長寬比、周長、面積），利用圖像ORC 識別技術、圖像定位、空間轉換等技術實現快...

智能考種系統可以測量各種表面光滑的籽粒的數量、千/百粒重與平均粒型（包括長、寬、長寬比、周長、面積），利用圖像ORC 識別技術、圖像定位、空間轉換等技術實現快速...

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