【儀表網 儀表標準】為了應對我國科研和生產部門的需要，規范納米材料可以分為納米顆粒、納米纖維和納米片，針對納米顆粒的尺寸測量，我們已經建立了詳細的基于原子力顯微術的測量方法。指導日常的測試工作，國家納米科學中心、納米技術及應用國家工程研究中心、北京粉體技術協會等單位共同起草了《表面化學分析 原子力顯微術 二硫化鉬片層材料厚度測量方法》。
《表面化學分析 原子力顯微術 二硫化鉬片層材料厚度測量方法》標準規定了利用原子力顯微術(Atomic force microscopy，簡稱AFM)測量二硫化鉬(Molybdenumdisulfide，簡稱MoS2)片層材料厚度的測量方法。適用于分散或生長在固體襯底表面的MoS2二維納米材料厚度的測量。
《表面化學分析 原子力顯微術 二硫化鉬片層材料厚度測量方法》標準按照GB/T 1.1—2009給出的規則起草。文件對于本文件的應用是的。凡是注日期的引用文件，僅所注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其新版本(包括所有的修)適用于本文件。有以下幾個文件引用。
GB/T 27760 利用Si(111)晶面原子臺階對原子力顯微鏡亞納米高度測量進行校準的方法
GB/T 33714 納米技術 納米顆粒尺寸測量 原子力顯微術
ISO 18115-2 表面化學分析 術語 第2部分 掃描探針顯微術術語
此外，AFM采用帶有針尖的微懸臂掃描樣品表面，微懸臂的一端連接的是由AFM控制器驅動的壓電掃描器，另一端的針尖感應樣品表面與針尖之間相互作用力，如圖1所示，當針尖與樣品表面很接近時，兩者之間的相互作用力(吸引力或排斥力)使微懸臂彎曲變形。激光從微懸臂的背面反射進入位置敏感的光電檢測器，微懸臂的形變可以通過反射光束的偏移量來測量,針尖的位移跟微懸臂的形變量呈線性關系。
通過標準可知，試驗所需的儀器有原子力顯微鏡、等離子清洗機、超聲清洗儀、移液槍、壓縮氣體等，標準不僅對樣品制備的襯底處理、二硫化鉬片層材料的轉移以及待測樣品的存放步驟進行了詳細介紹，還對測量步驟的設備校準、環境條件、開機準備、探針的選擇、成像模式的選擇、掃描范圍的設定、圖像的獲取與處理等步驟進行了論述。具體詳情詳見附件
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