◆ AnalysisStation
JED-2300T AnalysisStation是以“圖像觀察和分析”為基本理念的TEM/EDS集成系統。在分析數據過程中，自動采集電鏡主機的倍率、加速電壓等參數，進行數據管理。
硅漂移檢測器（以下簡稱SDD）的檢測面積有30mm2、60mm2和100mm2三種。檢測面積越大，檢測靈敏度越高。JEM-ARM200F（HRP）配合使用DRY SD100GV檢測器（檢測面積為100mm2），可同時實現大受光面積和高分辨率， 可以清楚地識別B、C、N、O等輕元素。
◆ 快速元素面分析
DRYSD100GV檢測器的靈敏度，測試Au催化劑顆粒只需一分鐘。
上圖: 樣品 負載在Ti氧化物上的Au催化劑顆粒
裝置: JEM-ARM200F + DRYSD100GV檢測器
測試時間: 大約1分鐘
束流電流: 1nA
像素數: 256ｘ256像素
◆ 實現原子分辨率的面分析
Sr和Ti的原子列被清楚地分離開來。
上圖: 樣品 SrTiO3<100>
裝置: JEM-ARM200F + DRYSD100GV檢測器
測試時間: 大約10分鐘
束流電流: 1nA
像素數: 128ｘ128像素
◆ play Back（回放）功能
用JEOL制造的EDS采集的元素面分布圖，不僅保存了每一幀中各個像素點的譜圖，還對每一幀中電子束形成的圖像進行了存儲。利用play back功能，可以進行多角度的分析如觀測譜圖等隨時間的變化等。測試后數據能夠回放，可以觀察到樣品按時間順序發生的變化，這是至今為止無法實現的。此外，利用play back功能還可以截取任意指定的畫面。
上圖: 裝置 JEM-2800+DRYSD100GV檢測器
樣品: 巖鹽
像素數: 128ｘ128
提取的幀號: 398幀s
