高靈敏度、低噪聲1900萬像素CMOS傳感器成像更清晰，可在低電子劑量下呈現樣品細節。
全局快門和高幀率（58 fps/全像素模式）設計使其在動態觀察過程中原位采集圖像。
“SightX”攝像系統控制軟件簡單易用。
Si3N4高分辨率TEM圖像
“數碼變焦”可確保成像清晰，在晶格分辨率下同樣表現優異。
Al72 Fe24 Ni4十二邊形準晶體高分辨率TEM圖像和電子衍射圖像
利用“數碼變焦”功能可以觀察呈現準周期性排列的原子，如準晶體的特征。
此外，高動態范圍還可提高電子衍射圖像的對比度，對高亮度直射光斑或低亮度光斑都有著不俗的表現。
多晶硅TEM圖像
以高對比度觀察多晶硅雙織構等精細結構。
聚乙烯(PE)和聚丙烯(PP)樹脂TEM圖像
利用“數碼變焦”可以清晰觀察片層結構。
胡蘿卜葉TEM圖像
可識別葉綠體和線粒體的薄膜結構；此外，還可以觀察膜結構細節。
磷脂雙分子層（脂質體）TEM圖像
可以清晰辨識脂質體的脂質雙層膜。
攝像系統控制軟件“SightX”
| 加速電壓 | ≤ 200kV |
| 有效像素數量 | 1900萬像素（5688 *3336） |
| 傳感器感光尺寸 | 36.4mm x 21.35mm |
| 像素尺寸 | 6.4um x 6.4um |
| 幀速 | 58fps全像素模式 |
| 記錄模式 | 圖像，視頻 |
| 圖像格式 | 大尺寸5688*3366，中等尺寸2880*1680，小尺寸1248*1200 |
| 文件格式 | TIFF、BMP、JPG |
| 快門類型 | 全局快門 |
| 安裝位置 | 底部安裝（觀察室下部），不可伸縮 |
| 控制軟件 | SightX 或TEM Center |
適用型號：JEM-F200、JEM-2100Plus、JEM-1400、JEM-2100、JEM-2100F、JEM-2200FS、CRYO ARM™200 (JEM-Z200FSC)
