電子顯微鏡

摘要蔡司工業顯微鏡 蔡司掃描電鏡ZEISS Sigma系列產品　　用于高品質成像與高級分析的蔡司場發射掃描電子顯微鏡　　靈活的探測，4步工作流程，高級的分析性能　　將高級的分析性能與場發射掃描技術相結合，利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選：用于顆粒、表...

摘要 體視顯微鏡是適用范圍非常廣泛的常規顯微鏡。對同一物體可實現連續放大倍率觀看,可能直接電視機或電腦上觀察實物圖像。

摘要 天津瑞利光電科技有限公司優勢經銷蔡司 Carl Zeiss電子顯微鏡Crossbeam 350產品型號：Crossbeam 350關鍵字：Carl Zeiss電子顯微鏡Crossbeam 350

摘要 天津瑞利光電科技有限公司優勢經銷蔡司 Carl Zeiss電子顯微鏡-Crossbeam 350產品型號：Crossbeam 350關鍵字：Carl Zeiss電子顯微鏡Crossbeam 350

摘要 天津瑞利光電科技有限公司優勢經銷蔡司Carl Zeiss電子顯微鏡-Crossbeam 350產品型號：Crossbeam 350關鍵字：Carl Zeiss電子顯微鏡Crossbeam 350

摘要 天津瑞利光電科技有限公司優勢經銷蔡司Carl Zeiss電子顯微鏡Crossbeam 350產品型號：Crossbeam 350關鍵字：Carl Zeiss電子顯微鏡Crossbeam 350

摘要 儀器組成1.顯微鏡主體：1臺2.三目鏡筒：1只3.10X目鏡：1對4.無限遠金相物鏡：5X、10X、20X、50X：各1只5.0.5倍適配鏡：1只6.YH-3001攝像機：1套

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摘要Veritas系列保持EM科特（EmCrafts）電子顯微鏡的高性能高效率，大樣品倉內含5軸共心電動樣品臺，可更輕松地測量大尺寸樣品。EM科特（EmCrafts）Veritas系列產品技術亮點：l大尺寸樣品分析 Veritas系列可以分析常規SEM無法分析的大尺寸樣...

摘要Genesis系列是一種高性能高分辨率W-SEM。新穎的設計中集成高性能和多功能性，擁有EM科特（EmCrafts）真空系統可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內）。EM科特（EmCrafts）Genesis-2020/2120以相同的緊湊型設計提供5軸電動共心樣品臺。直...

摘要EM科特（EmCrafts）Cube系列桌面式掃描電鏡，是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。區別與傳統掃描電鏡的笨重機身，Cube系列占地面積小，便攜性能好，可遵照客戶服務指南任意移動SEM設備。 EM科特（EmCrafts）Cube系列提供5軸共心樣品臺（電動或手動）的...

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摘要Scios DualBeam 雙束電子顯微鏡高級檢測技術是 FEI Scios 的核心技術。透鏡內 FEI Trinity™ 檢測技術能夠同時收集所有信號，既節省了時間還能形成鮮明的對比度，從而有助于采集盡可能多的數據。創新的透鏡下同心后散射檢測器能提高效...

摘要Apreo場發射掃描電子顯微鏡復合透鏡結合了靜電和磁浸沒技術，可產生前的高分辨率和材料 是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，而不會降低磁性樣品性能。傳統的高分辨率 SEM 透鏡技術分為兩類：磁浸沒或靜電。FEI 將兩種技術結合到一個儀器中。這樣做所產生的...

摘要Helios DualBeam™掃描電子顯微鏡 一直以來，Helios NanoLab 都綜合采用了 FEI 的電子和離子光學系統、配件和軟件，能夠為納米量級研究提供強大的解決方案。對于從事納米技術前沿研究的科學家，Helios NanoLab 能讓他們拓...

摘要 *的光學系統、精密的機械機構。長工作距離，景深大、分辨率高。滿足現代電子設備、半導體、激光、LED、LCD、工業在線檢測和生物等領域的數碼成像觀察、檢驗和測量。

摘要 天津瑞利光電科技有限公司優勢經銷Carl Zeiss顯微鏡 Axioscope 5系列產品型號：Axioscope 5

摘要 天津瑞利光電科技有限公司優勢經銷Carl Zeiss顯微鏡Axioscope 5系列產品型號：Axioscope 5

摘要 天津瑞利光電科技有限公司優勢經銷Carl Zeiss顯微鏡 Crossbeam 350產品型號：Crossbeam 350關鍵字：Carl Zeiss電子顯微鏡Crossbeam 350

摘要 天津瑞利光電科技有限公司優勢經銷Carl Zeiss顯微鏡Crossbeam 350產品型號：Crossbeam 350

摘要 天津瑞利光電科技有限公司優勢經銷Carl Zeiss 電子顯微鏡Crossbeam 350產品型號：Crossbeam 350

摘要 Cube II臺式掃描電鏡，是一款桌面型掃描電鏡，非常輕便、小巧，適用于高校、科研院所，及企業研發中心，可提供各種行業與領域樣品表面的微結構和表面形貌的微觀觀察?？蓛戎肊DS，結構緊湊，可方便用戶對樣品微區成分進行分析。

摘要 EM-AFM 納米操作系統提供了在SEM電鏡中原子力顯微鏡成像和定量測量納米力的能力。它可將SEM和AFM這兩種顯微技術進行聯用，提供高速高分辨率的3D形貌成像，以及微納米和亞納米尺度納牛力相互作用的實時觀測。

摘要 用于數字化檢查、觀察和測量的模塊化數字顯微鏡系統 DMS1000.光學系統提供高達 300 倍的放大倍率，從微小的細節到圖像全局都一覽無遺。快速的內置 HDMI 相機可拍攝高達每秒 30 幀的全高清實時圖像，分辨率達 5 百萬像素。

摘要 場發射掃描電子顯微鏡在結構研究中, 大量的樣品需要在高放大倍數、更多細節的水平上進行觀察和分析。同時, 隨著樣品種類的不斷增多（如: 低原子序數材料, 不導電材料等）, 需要掃描電子顯微鏡提供優異的低加速電壓性能, 以獲得高質量的真實表面圖像。

摘要 本原掃描探針顯微鏡（SPM）高精度計量型儀器，采用NanoSensors提供的可溯源于計量機構Physikalisch-Technische Bundesanstalt （PTB）的標準樣品進行校準

摘要 TEM 日本200kV場發射透射電子顯微鏡儀器簡介：JEM-2100F 應用廣泛，從材料科學、生命科學、醫療、制藥、半導體到納米技術。

摘要徠卡Leica DMS300數碼視頻顯微鏡Leica DMS300是一款完整的數字顯微鏡系統，采用了HDMI的顯示器，而不是目鏡。徠卡的高品質8:1變焦光學器件與一個2.5MP攝像頭相結合，提供達30fps的全高清實時圖像。Leica DMS300作為一個獨立的系統，...

摘要徠卡Leica DMS1000B數碼視頻顯微鏡Leica DMS1000 B包括結合了攝像頭、透射光底座（分別為TL3000 ST和TL5000 Ergo）和所有其它附件的數字顯微鏡，使DMS1000 B成為研究人員的創造性解決方案。高品質的光學系統提供了高達300倍...

摘要透射電鏡H-9500產品介紹：H-9500是一款300kV原位環境透射電鏡，其大的特點是可以進行原位實時觀察。相比于普通的透射電鏡，H-9500可以實現樣品在不同條件（如氣體、加熱等）刺激下的原位觀察，同時保證高分辨率。同樣，相比于樣品桿原位觀察的透射電鏡，H-950...

摘要 透射電鏡HF-3300是一款300kV的冷場發射透射電鏡，日立公司久負盛名的冷場發射電子槍和300kV高壓系統相結合保證了HF-3300具有超高分辨成像和高靈敏分析能力。HF-3300具有*的雙重雙棱鏡全息攝影功能。

摘要透射電鏡HD-2700產品介紹:HD-2700是一款200kV的場發射球差校正掃描透射電鏡。相比于普通的透射電鏡，HD-2700采用球差校正技術，大大減小了透鏡球差對分辨率的影響，從而可以實現超高分辨率的觀察。同時，HD-2700是目前少數以掃描透射（STEM）功能為...

摘要透射電鏡HF5000產品介紹：HF5000是日立的200kV球差校正場發射透射電鏡，采用冷場發射電子槍和全自動化的球差校正技術，在保證超高分辨率的同時大大簡化操作，實現高分辨觀察與易用性的*結合。HF5000同樣具有超高空間分辨率的分析能力，配合電子能量損失譜（EEL...

摘要透射電鏡HT7830產品介紹：HT7830是日立120kV透射電鏡的高分辨版本，主要針對軟材料領域，保留了HT7800標準版的CMOS熒光相機、雙隙物鏡、全數字化、大集成等優點，同時專門針對材料類樣品升級了物鏡極靴，采用高亮度的LaB6燈絲，可實現0.19nm（on-...

摘要透射電鏡HT7800產品簡介：HT7800作為的日立120kV透射電鏡的機型，是日立*公司為生物、制藥、納米技術和軟材料等領域而開發的進的透射電子顯微鏡。HT7800具有優異的操作性與多樣的自動功能，通過將CCD相機與顯微鏡主機的操作相統一，可以在顯示器畫面上輕松、簡...

摘要透射電鏡HT782機型日立推出120kV，該機型繼承了標準版HT7800高速CMOS熒光屏相機設計、全數字化、大集成等優點和創新點，仍然采用第二代雙隙物鏡的設計，設計使用高分辨物鏡，標配LaB6燈絲，性能實現突破性提升。此機型分辨率可保證0.144nm（晶格像），廣泛...

摘要 掃描電子顯微鏡制造是依據電子與物質的相互作用。當一束高能的入射電子轟擊物質表面時，被激發的區域將產生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區域產生的電磁輻射。

摘要透射電子顯微鏡可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小于0.2nm的細微結構，這些結構稱為亞顯微結構或超微結構。要想看清這些結構，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。1932年Ruska發明了以電子束為光源的，電子束的波長要比可見光和紫外光短得多，并且電子束的波...

摘要 JEOL掃描電子顯微鏡經過改進照射系統、真空系統和信號處理系統，不僅能觀察高質量的圖像，還能利用觸控屏和快速樣品臺進行高通量的直觀操作。