輪廓儀

摘要 簡介：圓柱度儀以精密回轉中心為回轉基準，精密直線運動導軌為直線測量基準，通過位于直線導軌上的位移傳感器測量圓柱體表面若干截面在不同轉角位置上的實際輪廓到回轉中心線的半徑變化量，來定量評價圓柱體表面圓柱度的測量儀器

摘要簡介：以表面輪廓測量儀為基礎機臺，測量原理與表面輪廓儀測量儀一樣，即采用直角坐標測量法，通過X軸、Z軸傳感器，測繪出被測零件的表面輪廓的坐標點，通過電器組件，將傳感器所測量的坐標點數據傳輸到上位PC機，軟件對所采集的原始坐標數據進行數學運算處理，標注所需的工程測量項目...

摘要 簡介：移動式，適用于車間現場移動計量或外形大、質量重、不方便移動工件的內孔部位測量。

摘要 北京天遠高精度藍光3D掃描儀OKIO 9M是業內搭載900萬像素相機的藍光三維檢測系統，可獲取物體表面高精細度特征。設備采用窄帶藍光光源，抗干擾性強。高性能的硬件模塊以及功能強大的三維重建算法，實現了計量級別的檢測需求。

摘要 日本三豐圓度圓柱度測量儀測量效率飛躍式提高的CNC 機型檢出器方向自動切換實現了高精度與高生產率的結合

摘要 eFoot-320Pro3D腳型掃描儀，高精度，快速獲取腳型三維測量數據（stl數據，可連接3D打印機打印腳模）與60幾組腳型測量報告（word文件，可連接打印機打印紙質報告）。

摘要 產品描述：薄膜厚度指的是基片表面和薄膜表面的距離，而實際上，薄膜的表面是不平整，不連續的，且薄膜內部存在著針孔、微裂紋、纖維絲、雜質、晶格缺陷和表面吸附分子等。

摘要 產品描述：布魯克NPFLEX 三維表面測量系統為大樣品的表面表征測量提供了靈活的非接觸式的方案。

摘要 產品介紹：東京精密輪廓測量機2700DX3 SD3

摘要 產品介紹：東京精密輪廓測量機1700DX3 SD3

摘要 產品介紹：東京精密輪廓形狀測量機 2600G

摘要 產品介紹：東京精密1600G輪廓形狀測量機

摘要 產品介紹：1800G 表面粗糙度l輪廓形狀測量機

摘要 產品介紹：東京精密輪廓測量機1600G

摘要 產品介紹：2800G 表面粗糙度和輪廓形狀復合測量機

摘要 產品介紹：表面粗糙度和輪廓形狀復合測量機 2800G

摘要 產品介紹：2000DX3 SD3 表面粗糙度和輪廓形狀綜合測量機

摘要 產品介紹：1910DX3 SD3 表面粗糙度和輪廓形狀復合測量機

摘要 產品介紹：2900DX3 SD3 表面粗糙度和輪廓形狀復合測量機

摘要 產品介紹：5000DX SD 表面粗糙度和輪廓形狀綜合測量機

摘要 產品介紹：C5 Type-C Type-S表面粗糙度測量機

摘要 產品介紹：表面粗糙度和輪廓形狀復合測量機 NEX

摘要 產品介紹：130A 表面粗糙度測量機

摘要 產品介紹：小型表面粗糙度測量機 130A

摘要 產品介紹：東京精密表面粗糙度測量機480B

摘要 產品介紹：480B表面粗糙度測量機

摘要 產品介紹：1400G-LCD PDP表面粗糙度測量機

摘要 產品介紹：東京精密表面粗糙度測量儀 SURFCOM TOUCH550

摘要 產品介紹：東京精密粗糙度測量儀1400G

摘要 產品介紹：1400G 表面粗糙度測量機

摘要 產品介紹：1500DX3 SD3 表面粗糙度測量機

摘要 產品介紹：東京精密表面粗糙度測量機 SURFCOM NEX

摘要 產品介紹：東京精密粗糙度測量機NEX

摘要 產品介紹：SURFCOM NEX001表面粗糙度測量孔 詳細信息

摘要 讓觀察對象纖毫畢現即使在低放大倍率下，DMC5400攝像頭也能實現高幀頻和高分辨率的彩色圖像

摘要 優化光學檢查S9體視顯微鏡具有滿足各種不同需求的不同型號

摘要 體式顯微鏡為科學教室提供無線教育解決方案

摘要 徠卡倒置式顯微鏡助您加速工作流程　　徠卡倒置式顯微鏡可以為您節省時間和資金

摘要 徠卡DMC2900是一款可由USB3.0傳送數據,具有三百一十萬像素傳感器的數碼攝像頭

摘要 自動要素判定功能（AI功能）無需點、直線、圓等的要素即進行自動判定

摘要 Elcometer129表面比較器有兩種型號:Elcometer129Rubert-有噴砂型和噴丸型Elcometer129Rugotest—同一塊板上同時具備噴砂和噴丸粗糙度粗糙度以“等級”和“粗糙度平均值”來顯示，識別更方便

摘要 Elcometer127系列表面比較器有噴細沙、噴丸或噴粗砂型

摘要 表面比較器極其耐用，可用來評估噴砂或噴丸表面的粗糙度情況

摘要 Elcometer122Testex測試帶由泡沫組成，其底面不可壓縮

摘要SuperView WX 100白光干涉測頭是一款非接觸式精密光學測頭，其基于白光干涉和精密掃描研制而成，主要由光學干涉系統和Z向掃描系統組成，具有體積小、重量輕、便攜的特點，能夠方便地搭載在各種具備XY水平位移架構的平臺上，在產線上對器件表面進行自動化形式的測量，直...