物位計

摘要 E+H超聲波物位計FMU30-1020/0產(chǎn)品類型顯示操作: H 現(xiàn)場包絡(luò)線顯示,按鍵 電氣連接: E 電纜密封套M20,IP68 傳感器;量程;盲區(qū) AA 1-1/2“;5m液體/2m固體;0.25m 過程連接: GGF 螺紋1S0228G1-1/2,PP

摘要西門子電容物位計分析儀授權(quán)總代理（模擬型：12~250VAC/DC；數(shù)字型：9~32VDC）。使用不銹鋼和PPS（可選PVDF）材料的探頭，使探頭的接液部位耐溫可達(dá)125 °C。物位開關(guān)通過檢測振蕩頻率的變化，可測量任何介電常數(shù)1.5以上的介質(zhì)，甚至能檢測到...

摘要 雷達(dá)物位計采用微波脈沖的測量方法，并可在工業(yè)頻率波段范圍內(nèi)正常，波束能量低，可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內(nèi)，對液體、漿料及顆粒料的物位進行非接觸式連續(xù)測量。

摘要 TKWL1100系列雷達(dá)式物位測量，輸出4~20Ma模擬信號，測量距離可達(dá)70米。天線被進一步優(yōu)化處理，的快速的微處理器可以進行更高速率的信號分析處理，使得儀表可以用于∶反應(yīng)釜或固體料倉非常復(fù)雜的測量條件。

摘要概―述YJ-53L系列超聲波物位計聲波頻率超過20kHz的聲波稱為超聲波﹐超聲波是機械波的一種，也是機械振動在彈性介質(zhì)中的一種傳播過程．它的特征是頻率高．波長短．繞射現(xiàn)象小，另外方向性好﹐能夠成為射線而定向傳播。超聲波在液體．固體中衰減很小，因而穿透能力強﹐尤其是在對...

摘要微波物位計，俗稱雷達(dá)物位計（Radar）。采用微波脈沖的測量方法，并可在工業(yè)頻率波段范圍內(nèi)正常，波束能量低可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內(nèi)，對液體、漿料及顆粒料的物位進行非接觸式連續(xù)測量。適用于粉塵、溫度、壓力變化大，有惰性氣體及蒸汽存在的場合。對人體及環(huán)境均無傷...

摘要 射頻導(dǎo)納物位計是我生產(chǎn)的新一代智能連續(xù)料位（液位）測量儀表，產(chǎn)品采用“射頻檢測技術(shù)”核心模塊，一體式安裝、標(biāo)準(zhǔn)桿式探頭，測量范圍廣，精確度高。

摘要 射頻導(dǎo)納物位計特點是一種采用射頻技術(shù)的新型連續(xù)料位測量儀表。解決了傳統(tǒng)式物位計溫漂大、標(biāo)定難、怕粘附的難題，可廣泛適應(yīng)用各行業(yè)中液體及固體料倉料位的連續(xù)測量。特別是在高溫、高壓力、強腐蝕、強粘附、粉塵大的環(huán)境下進行測量，是其他類型的物位計*的。

摘要MKSD500系列射頻導(dǎo)納物位計是一種新穎的物位測量儀表，它采用*的射頻導(dǎo)納技術(shù)，克服了電容式物位計不能消除導(dǎo)電掛料影響的缺陷，儀表具有運行可靠，適用于幾乎所有工業(yè)現(xiàn)場。儀表還具有安裝方便，免維護，低價位等特點, 廣泛用于石油、化工、冶金、醫(yī)藥、電力、食品、造紙等工業(yè)...

摘要 智能雷達(dá)物位計發(fā)射能量很低的極短的微波脈沖通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收。

摘要 射頻導(dǎo)納物位計：通用性強：可測量液位及料位，可滿足不同溫度、壓力、介質(zhì)的測量要求，并可應(yīng)用于腐蝕、沖擊等惡劣場合。

摘要 雷達(dá)物位計用于對液體、漿料及顆粒料的物位進行非接觸連續(xù)測量，適用于溫度、壓力變化大、有惰性氣體或蒸汽存在的場合。它采用微波脈沖（PTOF）的測量方法，并可在工業(yè)頻率波段范圍內(nèi)正常工作。波束能量低，可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內(nèi)，對人體及環(huán)境均無傷害。

摘要 UYZ3□□□□型系列電容物位計概述：該物位計適用于各種承壓.敞口容器，導(dǎo)電與非導(dǎo)電液位，粉狀等連續(xù)測量，將物位變化轉(zhuǎn)換為電容的變化，通過電路轉(zhuǎn)換成4-20mA電流輸出。

摘要一體化超聲波物位計/（兩線制，帶編程器！）中西器材 型號:M151145庫號：M151145 1 測量原理原理超聲波物位計的工作原理是由換能器（探頭）發(fā)出高頻超聲波脈沖遇到被測介質(zhì)表面被反射回來，部分反射回波被同一換能器接收，轉(zhuǎn)換成電信號。超聲波脈沖以聲波速度傳播...

摘要 西門子雷達(dá)物位計7ML5421-0AK03-0BE2國內(nèi)低價SITRANS LR 400物位計, 使用一種高頻微波,即使介質(zhì)對波的反射性能很差,測量依然可靠。SITRANS LR400 支持HART 協(xié)議,或PROFIBUS-PA（可選）。環(huán)境溫度:-40~65℃

摘要6.3G智能雷達(dá)物位計通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收能量很低的極短的微波脈沖。雷達(dá)波以光速運行。運行時間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內(nèi)穩(wěn)定和精確的測量。即使工況比較復(fù)雜的情況下，存在虛假回波，用的微處理技術(shù)和調(diào)試軟件也可以準(zhǔn)確的分析...

摘要 濟寧恒通儀表喇叭口雷達(dá)料位計，防爆雷達(dá)物位計廠家，技術(shù)參數(shù)應(yīng)用：適應(yīng)各種存儲容器或過程計量環(huán)境，液體、漿料、固體比如：原油、輕油儲罐，原煤、粉煤倉位，揮發(fā)性液體儲罐，焦碳料位，漿料儲罐，固體顆粒

摘要 MY-ZLD600系列高溫雷達(dá)物（液）位計測量距離Z大35 米，可以用于存儲罐、中間緩沖罐或過程容器的物位測量，輸出4…20mA 模擬信號。高溫雷達(dá)物位計規(guī)格 參數(shù) 品牌：銘宇儀表

摘要 射頻導(dǎo)納物位計，兩線制本安設(shè)計，單元和探頭都是本質(zhì)安全的，*的技術(shù)保證了儀表使用壽命長達(dá)15年防 掛 料：三端屏蔽技術(shù)使其可以忽略掛壁或傳感元件掛料的影響

摘要 BRL系列雷達(dá)物位計是一款采用26GHZ發(fā)射頻率的高頻雷達(dá)，波束角小，能量集中，具有更強抗干擾強，大大提高了測量精度和可靠性測量距離zui大70米,可用于測量液、固、粉等物態(tài)介質(zhì)的物位。

摘要分體式超聲波物位計是機械波的一種，即是機械振動在彈性介質(zhì)中的一種傳播過程，它的特征是頻率高、波長短、繞射現(xiàn)象小，另外方向性好，能夠成為射線而定向傳播。超聲波在液體、固體中衰減很小，因而穿透能力強，尤其是在對光不透明的固體中，超聲波可穿透幾十米的長度，碰到雜質(zhì)或界面就會...

摘要 電容物位計是利用電容量的變化來測量容器內(nèi)介質(zhì)物位的測量儀表，在容器內(nèi)，由電極和導(dǎo)電材料制造的容器壁構(gòu)成了一個電容。對于一個給定的電極，被測介質(zhì)的介電常數(shù)不變時，給電極加一個固定頻率的測量電壓，則流過電容的電流取決于電容電極間介質(zhì)的高度，并與之成比例。

摘要二線制聲波物位計 型號:DPUSS-93B本系列產(chǎn)品采用二線制，供電和信號輸出共用根兩芯電纜，輸出4～20mA電流信號。精度（空氣中）：量程0。2%現(xiàn)實分辨率:1mm/1cm顯示方式：4位LCD液晶輸出電源：DC20-32V溫度補償：全范圍自動介質(zhì)溫度：-45°C-+...

摘要26G高頻雷達(dá)物位計采用26GHZ的發(fā)射頻率，拋物面天線，波束角小，能量集中，對于安裝位置有了更大的靈活性，同時對于小罐體和特殊罐體的測量有了更好的適應(yīng)性；26G高頻雷達(dá)物位計具有更強抗干擾能力，很大程度上提高了測量精度和穩(wěn)定性；26G高頻雷達(dá)物位計測量盲區(qū)小，波長更...

摘要 E+H雷達(dá)物位計特性，F(xiàn)MR56-BCKCCBBRXZG+AK采用兩線制技術(shù)，有效的降低布線成本，且易于實現(xiàn)與現(xiàn)有系統(tǒng)的集成非接觸式測量通過數(shù)文引導(dǎo)式菜單輕松進行現(xiàn)場操作.

摘要 JN-2000AW超聲波物位計采用*聲學(xué)匹配技術(shù)和聲智能軟件處理技術(shù)，可用于對液體、漿料及顆粒料的物位進行非接觸式連續(xù)測量。

摘要雷達(dá)物位計測量原理：發(fā)射能量很低的極短的微波脈沖通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收。雷達(dá)波以光速運行。運行時間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內(nèi)穩(wěn)定和精確的測量。即使工況比較復(fù)雜的情況下，存在虛假回波，用的微處理技術(shù)和調(diào)試軟件也可以準(zhǔn)確的分...

摘要 KY705 導(dǎo)波雷達(dá)物位計適用介質(zhì)：液體，特別是高溫高壓環(huán)境里的液體，應(yīng) 用：密封罐，壓力較大的液體測量

摘要 JDD800系列智能雷達(dá)物位計即使在工況比較復(fù)雜，存在虛假回波的情況下，其用的微處理技術(shù)和調(diào)試軟件也可以準(zhǔn)確的分析出物位的回波。

摘要 雷達(dá)物位計 /物位計 型號:TC-GDFLEX42產(chǎn)品技術(shù)指標(biāo) 類別TC-GDFLEX41TC-GDFLEX41TC-GDFLEX41 應(yīng)用 液體、固體顆粒 液體、固體顆粒 液體，界位 測量范圍 35 m 6 m 6 m

摘要射頻導(dǎo)納連續(xù)物位計儀表用于連續(xù)物位測量，產(chǎn)品應(yīng)用于工況現(xiàn)場，適用于大多數(shù)應(yīng)用場合。儀表由一個電路單元、一套防爆外殼和桿式或纜式傳感元件組成，傳感器有多種型號可選。儀表可選整體或分體安裝。射射頻導(dǎo)納連續(xù)物位計控制技術(shù)是一種從電容式物位控制技術(shù)發(fā)展起來的，防掛料性能更好、...

摘要 阻移式物位計UL- 2UL阻旋料位開關(guān)型儀表，對開口料倉與密閉料倉中的粉狀、顆粒狀、塊狀物料進行檢測、報警及控制。經(jīng)鋼鐵、耐火、水泥、橡膠、化纖、電力等工業(yè)的長期運行，都獲得理想效果，被廣泛用于工業(yè)生產(chǎn)中。

摘要 安徽華潤(www.huarunyb.com)運行模式：物位，空間，距離測量范圍：0.3m～60m測 點 數(shù)：單點/雙點/十點顯 示：背亮式圖形LCD,51mm×127mm顯示區(qū)環(huán)境溫度：-20℃～50℃

摘要 XHD800系列智能雷達(dá)物位計適用于各種過程條件復(fù)雜的容器、儲罐、倉料等物位測量，適用于對液體、漿料、顆粒以及粉塵的物位進行接觸式連續(xù)測量，特別是應(yīng)用在有粉塵、以及有揮發(fā)性物質(zhì)存在的復(fù)雜環(huán)境下，且不受被測介質(zhì)物理特性變化的影響。

摘要 BTY-C系列電容式物位變送器適合含有液體、固體顆粒的容器、槽、筒倉或料斗的連續(xù)料位測量。本產(chǎn)品以其耐惡劣使用環(huán)境、高可靠等特點被成功應(yīng)用于石油、化工、發(fā)電、食品、水處理、冶金、水泥等的料位自動化測試系統(tǒng)。

摘要 導(dǎo)波雷達(dá)是基于時間行程原理的測量儀表，雷達(dá)波以光速運行；運行時間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號。儀表測量參考點到物料表面的距離，探頭發(fā)出高頻脈沖并沿纜繩傳播，當(dāng)脈沖遇到物料表面時反射回來被儀表內(nèi)的接收器接受，并將時間信號轉(zhuǎn)化為物位信號。

摘要測量原理發(fā)射能量很低的極短的微波脈沖通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收。雷達(dá)波以光速運行。運行時間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內(nèi)穩(wěn)定和精確的測量。即使工況比較復(fù)雜的情況下，存在虛假回波，用的微處理技術(shù)和調(diào)試軟件也可以準(zhǔn)確的分析出物位的回...

摘要 UYB-2000系列射頻電容物位計廣泛用于電力、冶金、化工、水利、食品、污水處理、鍋爐汽包等液位的連續(xù)測量。

摘要 射頻導(dǎo)納物位計可應(yīng)用于冶金、化工、石油、電力、食品、造紙、煤炭、建材、醫(yī)藥、環(huán)保等領(lǐng)域的料位、液位的報警和控制，并可與PLC可編程控制器或DCS集散控制系統(tǒng)配。

摘要 雷達(dá)物位計概述LD系列傳感器是先進的雷達(dá)式物位測量儀表，最大測量距離35米，可以用于存儲罐、中間緩沖罐或料倉過程容器的物位測量，輸出4~20mA 模擬信號。

摘要 產(chǎn)品描述測量范圍:420

摘要EMA伊瑪VS1003和VS1004耐腐蝕超聲波物位計/開關(guān)是專門為各種腐蝕性環(huán)境設(shè)計的超聲波測量設(shè)備。它們的主要應(yīng)用領(lǐng)域多，包括水或廢水處理設(shè)備，如桶槽、渠道水池、水井等。對于液體原料，如湯汁、油脂、重油、飲料等，這些料位計也能提供準(zhǔn)確的測量。在化工原料領(lǐng)域，VS1...

摘要 產(chǎn)品概述?ALKRD61喇叭口高頻雷達(dá)物位計，輸出4~20mA模擬信號，測量距離遠(yuǎn)

摘要 Herrett PL850PT抗粉塵超聲波物位計PL850PT產(chǎn)品介紹： Herrett公司PL850PT超聲波傳感器提供各種不同規(guī)格及功率的超聲波物位計換能器。重量輕，易安裝，可被用于各個行業(yè)。在檢測固體顆粒時精度可達(dá)1%，檢測液體時精度達(dá)0.25%。

摘要 XE-8260L脈沖雷達(dá)物位計-萬向節(jié)的原理是雷達(dá)物位計天線發(fā)射極窄的微波脈沖，這個脈沖以光速在空間傳播，遇到被測介質(zhì)表面，其部分能量被反射回來，被同一天線接收。發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線到被測介質(zhì)表面的距離成正比，從而計算出天線到被測介質(zhì)表面的距離。