尊敬的女士/先生:

    非常榮幸地邀請您參加于2010 年7 月22 日（周四）下午在深圳東方銀座酒店舉行的“分立器件測試技術研討會” 

    本次研討會將由美國STI公司副總裁John Bailey與大家一起分享半導體分立器件的測試技術，STI分立器件測試儀的應用，并為您現場解答您關心的測試問題。 

    本次研討會我們邀請了艾默生網絡能源，山特，意法，安森美等知名企業，希望大家能夠相互交流測試經驗。對于與會者我們將有精美禮品奉送！ 

時間：2010 年7 月 22 日星期四 14:00-17:00

地址：深圳福田區深南大道竹子林東方銀座酒店雅典廳

公交路線：乘公交車到竹子林站（深南大道北側）即可到達酒店

地鐵路線：乘坐地鐵到竹子林站B出口，即可到達酒店

駕車路線：深南大道北側，竹子林

酒店電話：0755-8350 0888

主辦方：深圳市云帆興燁科技有限公司   www.sinyee.cn 

        美國科學儀器測試公司

會議日程

日期

時間

主題

講師

7月22

14:00-15:00

分立器件測試與ATE

John

7月22　

15：00-15:15

Tea Break

7月22　

15:15-16:15

STI5000C 器件特性曲線掃描

John

7月22　

16:15-16:45

現場答疑

John

7月22　

16:45-17:00

國內客戶案例分享

艾默生