ST-21型方塊電阻測試儀

立即下載

資料簡介

ST-21型方塊電阻測試儀

是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。

該儀器以大規模集成電路為主要核心；用基準電源和運算放大器組成高精度穩流源；帶回路有效正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。

◆ 特點：

1	采用大規模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩定，低功耗；
2	以大屏幕LCD顯示讀數，直觀清晰；
3	采用單個電池供電，帶電池欠壓指示；
4	體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；
5	特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜
6	探頭帶抗靜電模塊

技術指標：

測量范圍	按方塊電阻量值大小分為二個量程檔(可調)： 1.方塊電阻 1.00～199.99Ω/□； 2.方塊電阻 10.0～1999.9Ω/□； zui小分辨率：0.01Ω/□
恒流源	測量過程誤差：≤±0.8%
模數轉換器	量程：0～199.99mv；分辨率：10μv；方式：LCD大屏幕顯示；極性，超量程均自動顯示；小數點同步顯示；
測量不確定度	在整個量程范圍內，測量不確定度≤5%
四探針探頭規格	間距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ
電源	9V疊層電池1節

ST-21方塊電阻測試儀可選配HP系列四探針探頭的型號及規格：

ST-21方塊電阻測試儀可選配SP-601型方型四探針探頭的型號及規格：

型號 (Model)	曲率半徑 (Radius)	壓力 (loads)	探針間距 (spacing)	探針排列 (Arrangement)
SP-601	0.5mm	100g	1.59mm	方形

相關產品

凡本網注明“來源：儀表網”的所有作品，均為浙江興旺寶明通網絡有限公司-儀表網合法擁有版權或有權使用的作品，未經本網授權不得轉載、摘編或利用其他方式使用上述作品。已經本網授權使用作品的，應在授權范圍內使用，并注明“來源：儀表網”。違反上述聲明者，本網將追究其相關法律責任。
本網轉載并注明自其他來源（非儀表網）的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網贊同其觀點和對其真實性負責，不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網站或個人從本網轉載時，必須保留本網注明的作品第一來源，并自負版權等法律責任。
如涉及作品內容、版權等問題，請在作品發表之日起一周內與本網聯系，否則視為放棄相關權利。