白光干涉測厚儀的技術特征表現

來源：廣州貝拓科學技術有限公司 2025年07月31日 07:32

白光干涉測厚儀可快色準確的測量粗糙和鏡面反射工件的表面輪廓。可用于測量平整度、波紋度、扭曲、臺階高度和多種其他表面特性。

有全功能設置，因而可以用在許多不同的情況使用。機動結合自動拼接程序因而能測量大面積。主要應用包括在質量管理和過程控制的使用。這款白光干涉測厚儀通過其快速、準確的檢測,提供較優條件產生有意義的尺度來確保產品和流程的質量。

白光干涉測厚儀的技術特征：

1.嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標定制。

2.測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統誤差。

3.支持自動和手動兩種測量模式，方便用戶自由選擇。

4.實時顯示測量結果的較大值、較小值、平均值以及標準偏差等分析數據，方便用戶進行判斷。

5.配置標準量塊用于系統標定，保證測試的精度和數據一致性。

6.系統支持數據實時顯示、自動統計、打印等許多實用功能，方便快捷地獲取測試結果。

7.系統由微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板，方便用戶進行試驗操作和數據查看。

8.標準的RS232接口，便于系統的外部連接和數據傳輸。

9.支持Lystem™實驗室數據共享系統，統一管理試驗結果和試驗報告。

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