納米粒度儀分析儀的工作原理和功能特點(diǎn)介紹

來(lái)源：廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司 2025年07月30日 08:10

　　納米粒度儀分析儀在一臺(tái)儀器中集成了動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)和靜態(tài)光散射兩種技術(shù)。動(dòng)態(tài)光散射法用于測(cè)量粒度及分子大小，靜態(tài)光散射法用于確定蛋白質(zhì)與聚合物的分子量。這種技術(shù)對(duì)整個(gè)系統(tǒng)的穩(wěn)定性的要求，要求每個(gè)設(shè)計(jì)元素都必須實(shí)現(xiàn)優(yōu)化，以確保高準(zhǔn)確性和重現(xiàn)性。采用光路密閉設(shè)計(jì)，防止污染。

　　納米粒度儀分析儀的工作原理：

　　采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì)，根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。

　　顆粒測(cè)試的數(shù)據(jù)計(jì)算一般分為約束擬合反演和有約束擬合反演兩種方法。有約束擬合反演在計(jì)算前假設(shè)顆粒群符合某種分布規(guī)律，再根據(jù)該規(guī)律反演出粒度分布。這種運(yùn)算相對(duì)比較簡(jiǎn)單，但由于事先的假設(shè)與實(shí)際情況之間不可避免會(huì)存在偏差，從而有約束擬合計(jì)算出的測(cè)試數(shù)據(jù)不能真實(shí)反映顆粒群的實(shí)際粒度分布。

　　約束擬合反演即測(cè)試前對(duì)顆粒群不做任何假設(shè)，通過(guò)光強(qiáng)直接準(zhǔn)確地計(jì)算出顆粒群的粒度分布。這種計(jì)算前提是合理的探測(cè)器設(shè)計(jì)和粒度分，給設(shè)備本身提出很高的要求。采用優(yōu)的非均勻性交叉三維扇形矩陣排列的探測(cè)器陣列和合理的粒度分，從而能夠準(zhǔn)確地測(cè)量顆粒群的粒度分布。

　　納米粒度儀分析儀的功能特點(diǎn)：

　　1、反演算法：采用擬合累積反演法和基于V-曲線判斷準(zhǔn)則的正則化算法反演顆粒粒徑及其粒度分布，使測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確度和重復(fù)性均小于1%。

　　2、抗噪能力：采用小波消噪技術(shù)，解決了散射光強(qiáng)較低時(shí)，噪聲過(guò)大對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。

　　3、溫控系統(tǒng)：基于半導(dǎo)體制冷裝置，采用自適應(yīng)PID控制算法，使溫度控制精度達(dá)±0.1℃。

　　4、穩(wěn)定的光路系統(tǒng)：采用恒溫固態(tài)激光光源和單模保偏光纖技術(shù)搭建而成的光路系統(tǒng)，保證了光子相關(guān)光譜測(cè)量系統(tǒng)的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確度。

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