Zeta電位分析儀的測量原理與技術特點詳解

來源：廣州貝拓科學技術有限公司 2025年07月27日 07:37

　　Zeta電位分析儀是一種用于測量顆粒表面電荷性質和分布的精密儀器，廣泛應用于涂料、顏料、制藥、食品等領域。了解測量原理與技術特點，有助于我們更好地理解和應用這一設備。

　　一、測量原理

　　Zeta電位分析儀基于電泳技術來測量顆粒的表面電荷。電泳是指帶電顆粒在電場作用下向相反電荷方向移動的現(xiàn)象。通過測量顆粒在電場作用下的遷移速度，計算出顆粒表面的Zeta電位。

　　1.Henry方程：Zeta電位與顆粒表面的電荷密度和雙電層厚度有關。Henry方程描述了這些變量之間的關系，即Zeta電位等于顆粒表面的電荷密度與雙電層厚度的乘積。

　　2.膠體顆粒的電動勢：顆粒在電場作用下會產(chǎn)生電動勢，導致帶電顆粒向相反電荷方向移動。通過測量顆粒的電動勢，計算出顆粒表面的Zeta電位。

　　二、技術特點

　　1.高精度測量：采用電泳技術，可以實現(xiàn)高精度的Zeta電位測量。

　　2.快速測量：設備可以在幾分鐘內(nèi)完成測量，提高工作效率。

　　3.適用范圍廣：適用于各種顆粒體系，包括懸浮液、乳液、膠體等。

　　4.可靠性高：設備采用穩(wěn)定的硬件設計和的數(shù)據(jù)處理算法，確保測量結果的可靠性和準確性。

　　5.操作簡便：通常具有友好的用戶操作界面，用戶可以快速學會設備的操作和使用。

　　了解Zeta電位分析儀的測量原理與技術特點，有助于我們更好地使用和維護設備，提高測量的精度和效率。在實際應用中，用戶應根據(jù)自己的需求和設備說明書，合理利用設備的各項功能，實現(xiàn)精確的Zeta電位測量。

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