ICP-MS 的常見問題

       電感耦合等離子質譜 (ICP-MS) 是一種靈活的化學分析方法，可以定制以滿足各種行業的需求，包括自然資源勘探、石化產品、食品安全、材料和冶金、制藥等。鑒于需要高水平的員工熟練操作才不容易出現較大偏差。那么我們來總結下經常出現的一些問題。


      與 ICP-MS 相關的一些見問題通常源于霧化器或錐形離子光學元件的問題。如果這些元素臟污或損壞，則可能會觀察到從同一樣品中重復測量的離子計數率和精度的不一致。寄生泵的問題也可能導致類似的問題。


     由于該技術非常敏感，它也容易產生記憶或殘留效應，由此分析物的檢測限可能會由于其在儀器中的殘留存在而人為增加.


     質量干擾始終是一個問題，并且已經描述了有助于減輕其影響的解決方案。盡管單四極桿系統中的碰撞和反應池在消除元素和分子離子質量干擾方面很有效，但在消除等壓質量干擾（具有相同同位素質量的兩個元素離子，例如58 Ni 和58 Fe）時，它們的效果要差得多，或者由雙電荷離子（z = 2；例如56 Fe ++和28 Si +）引起的 m/z 干擾。分離這些類型的干擾通常需要三重四極桿系統。


     最后，實驗室組件，從試劑到水再到玻璃器皿，必須干凈無瑕且純度高，以防止意外樣品或標準污染。