納米粒度及電位分析儀在涂覆材料分散性能預(yù)測中的應(yīng)用

來源：珠海歐美克儀器有限公司 2024年09月02日 10:58

　　隨著科技的進步，納米技術(shù)在各個領(lǐng)域的應(yīng)用日益廣泛，特別是在涂覆材料領(lǐng)域，納米粒度和電位分析儀成為了提升產(chǎn)品質(zhì)量、優(yōu)化生產(chǎn)工藝的關(guān)鍵工具。本文將以珠海歐美克儀器有限公司的NS-90Z Plus納米粒度及電位分析儀為例，探討其在涂覆材料分散性能預(yù)測中的重要作用。

　　一、NS-90Z Plus納米粒度及電位分析儀概述

　　NS-90Z Plus是珠海歐美克儀器有限公司在成功引進和吸收馬爾文帕納科(Malvern Panalytical)納米顆粒表征技術(shù)后，進一步優(yōu)化光學電子測量技術(shù)和分析性能推出的一款儀器。該儀器集粒度分析、Zeta電位測定及分子量測量功能于一體，采用動態(tài)光散射技術(shù)(DLS)、電泳光散射技術(shù)(ELS)和靜態(tài)光散射技術(shù)，能夠全面滿足納米材料研究、制劑開發(fā)和生產(chǎn)中的測試需求。

　　二、NS-90Z Plus在涂覆材料分散性能預(yù)測中的優(yōu)勢

　　高精度粒度分析：NS-90Z Plus的粒度測量范圍廣泛，從0.3nm到10μm(取決于樣品)，能夠滿足不同粒徑涂覆材料的測試需求。其采用的動態(tài)光散射技術(shù)能夠精確測量粒子在溶液中的運動狀態(tài)，從而計算出粒徑分布，為評估涂覆材料的分散性能提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)。

　　Zeta電位測定：Zeta電位是衡量顆粒表面電荷性質(zhì)的重要指標，對涂覆材料的分散穩(wěn)定性有直接影響。NS-90Z Plus采用電泳光散射技術(shù)，能夠準確測定顆粒的Zeta電位和電位分布，幫助研究人員了解顆粒間的靜電相互作用，從而預(yù)測和優(yōu)化涂覆材料的分散性能。

　　高靈敏度與重現(xiàn)性：儀器配備的進口雪崩式光電二極管(APD)檢測器、He-Ne氣體激光器光源和高性能相關(guān)器等優(yōu)質(zhì)硬件，結(jié)合內(nèi)部溫控裝置和密閉光纖光路設(shè)計，確保了測量數(shù)據(jù)的高靈敏度和高重現(xiàn)性。這對于需要精確控制涂覆材料分散性能的工業(yè)應(yīng)用尤為重要。

　　軟件功能強大：NS-90Z Plus支持SOP標準化操作，具備審計、權(quán)限管理及電子簽名功能，符合CFDA GMP《計算機化系統(tǒng)和確認與驗證》要求。同時，其先進的軟件算法能夠智能反饋測試數(shù)據(jù)質(zhì)量并提供優(yōu)化建議，極大地簡化了操作流程，提高了工作效率。

　　三、應(yīng)用實例

　　在涂覆材料的研發(fā)和生產(chǎn)過程中，NS-90Z Plus納米粒度及電位分析儀可用于以下方面：

　　· 分散性能評估：通過測量涂覆材料在不同溶劑或介質(zhì)中的粒徑分布和Zeta電位，評估其分散性能，為配方優(yōu)化提供依據(jù)。

　　· 穩(wěn)定性預(yù)測：結(jié)合粒徑和Zeta電位數(shù)據(jù)，預(yù)測涂覆材料在不同條件下的穩(wěn)定性，避免因分散不均導(dǎo)致的質(zhì)量問題。

　　· 生產(chǎn)工藝優(yōu)化：根據(jù)測試結(jié)果調(diào)整生產(chǎn)工藝參數(shù)，如攪拌速度、溫度等，以優(yōu)化涂覆材料的分散性能和最終產(chǎn)品質(zhì)量。

　　四、結(jié)語

　　綜上所述，NS-90Z Plus納米粒度及電位分析儀在涂覆材料分散性能預(yù)測中發(fā)揮著重要作用。其高精度、高靈敏度和強大的軟件功能為涂覆材料的研發(fā)和生產(chǎn)提供了有力的技術(shù)支持。隨著納米技術(shù)的不斷發(fā)展，相信這款儀器將在更多領(lǐng)域展現(xiàn)出其**的價值和魅力。

相關(guān)產(chǎn)品

免責聲明

凡本網(wǎng)注明“來源：儀表網(wǎng)”的所有作品，均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-儀表網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品，未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的，應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用，并注明“來源：儀表網(wǎng)”。違反上述聲明者，本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責任。
本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其它來源（非儀表網(wǎng)）的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網(wǎng)贊同其觀點或和對其真實性負責，不承擔此類作品侵權(quán)行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時，必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源，并自負版權(quán)等法律責任。
如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題，請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系，否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。