一六儀器|XD-1000上照式光譜測厚儀的八大優(yōu)勢

　　XD-1000上照式光譜測厚儀，對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、微小密集型多點測試或自動逐個檢測大量的小部件，如線路板、引線支架、衛(wèi)浴產(chǎn)品等。接下來和一六一起了解XD-1000上照式光譜測厚儀的八大優(yōu)勢。

　　XD-1000上照式光譜測厚儀的八大優(yōu)勢：

　　可靠的高性能

　　測試精度、穩(wěn)定性高，在提供高質(zhì)量的同時減少浪費和停機時間。

　　更高的性價比

　　制造工藝升級，更具性價比，大大節(jié)省使用成本。

　　前沿檢測技術(shù)

　　高集成垂直光路系統(tǒng)，采用*的解請技術(shù)和影像識別算法，實現(xiàn)精準、快速、智能、自動檢測，滿足企業(yè)檢測需求。

　　使用壽命更長

　　模塊化設(shè)計，聚焦節(jié)能，搭載自動休眠模式，延長使用壽命。

　　核心EFP算法

　　*的EFP算法不但對多層測試準、校準方便，而且解決了多層合金、上下元素重復鍍層及滲層的檢測題。

　　四焦一體裝置

　　搭載高集成四焦技術(shù)，可測量90mm深度的凹槽高低落差異形件。

　　上照式設(shè)計

　　上下位機管理分工，可實現(xiàn)對超大型工件的快、準、穩(wěn)高效測量。

　　適用性強

　　精準測量各類金屬鍵層厚度的同時可對電鍍液進行分析。

　　以上就是一六整理分享的關(guān)于XD-1000上照式光譜測厚儀的八大優(yōu)勢。公司現(xiàn)有專用高性能X熒光測厚儀、多功能全自動X熒光測厚儀、多用途全性能X熒光光譜儀、真空腔體X熒光光譜儀等多個系列幾十種型號儀器。