鍍鎳測(cè)厚儀檢測(cè)原理分類(lèi)與影響測(cè)量精度的原因

　　X射線(xiàn)熒光光譜儀，專(zhuān)門(mén)用于鍍金/鍍錫/鍍鉻/鍍銀/鍍鎳層厚度檢測(cè);其核心部件采用美國(guó)進(jìn)口，軟件算法采用XRF前沿技術(shù)，儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)報(bào)告;精密度、準(zhǔn)確度、檢出限等技術(shù)參數(shù)全面超過(guò)國(guó)內(nèi)外同類(lèi)儀器，特別針對(duì)大件異形不平整樣品，無(wú)需拆分，直接測(cè)試即可達(dá)到精確的測(cè)試效果。

　　1.鍍鎳測(cè)厚儀根據(jù)測(cè)量原理的分類(lèi)

　　(1)磁性測(cè)厚法:適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量.導(dǎo)磁材料一般為:鋼鐵銀鎳.此種方法測(cè)量精度高.

　　(2)渦流測(cè)厚法:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量.此種方法較磁性測(cè)厚法精度高.

　　(3)超聲波測(cè)厚法:適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或則是以上兩種方法都無(wú)法測(cè)量的場(chǎng)合.

　　(4)電解測(cè)厚法:此方法有別于以上三種,不屬于無(wú)損檢測(cè),需要破壞涂鍍層.一般精度也不高.測(cè)量起來(lái)較其他幾種麻煩.

　　(5)放射測(cè)厚法:此種儀器價(jià)格非常昂貴(一般在10萬(wàn)RMB以上),適用于一些特殊場(chǎng)合.國(guó)內(nèi)目前使用普遍的是前兩種方法.

　　2.影響鍍鎳測(cè)厚儀測(cè)量精度的原因

　　(1)覆蓋層厚度大于25µm時(shí),其誤差與覆蓋層厚度近似成正比;

　　(2)基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān);

　　(3)任何一種測(cè)厚儀都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度,只有大于這個(gè)厚度,測(cè)量才不會(huì)受基體金屬厚度的影響;

　　(4)渦流測(cè)厚儀對(duì)式樣測(cè)定存在邊緣效應(yīng),即對(duì)靠近式樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測(cè)量是不可靠的.

　　(5)試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大;

　　(6)基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測(cè)量的精度,粗糙度增大,影響增大;

　　(7)渦流測(cè)厚儀對(duì)妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感.因此測(cè)量前應(yīng)清除測(cè)頭 和覆蓋層表面的污物;測(cè)量時(shí)應(yīng)使測(cè)頭與測(cè)試表面保持恒壓垂直接觸。

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