內(nèi)校天平的優(yōu)勢(shì)

來源：上海實(shí)潤(rùn)實(shí)業(yè)有限公司 2022年06月02日 08:41

內(nèi)校天平的優(yōu)勢(shì)

通常，外部砝碼可能會(huì)受到灰塵沾染、日常磨損和酸堿腐蝕等自然因素的不良影響，所以為了保證電子天平計(jì)量工作的準(zhǔn)確性，外部砝碼也需要定期進(jìn)行校準(zhǔn)，常常需有相關(guān)資質(zhì)的計(jì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)做測(cè)試；

按“CAL”鍵，啟動(dòng)天平的內(nèi)部叫校準(zhǔn)功能，稍后電子天平顯示“C”，表示正在進(jìn)行內(nèi)部校準(zhǔn)。當(dāng)電子天平顯示器顯示為零位時(shí)，說明電子天平應(yīng)已經(jīng)校準(zhǔn)完畢。

再加上人為拿錯(cuò)砝碼的可能性，因此外校型天平對(duì)人為操作的要求會(huì)更加苛刻。而內(nèi)置砝碼的天平一般不會(huì)出現(xiàn)這些情況，并可以通過修改天平的校正程序參數(shù)來修正偏差。綜上所述，內(nèi)校可以有效避免不確定因素所造不準(zhǔn)確。

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