奧林巴斯手持XRF分析儀相比傳統(tǒng)分析儀的優(yōu)勢

　　奧林巴斯手持XRF分析儀，常被用于各個工業(yè)領域，隨著分析儀的不斷發(fā)展創(chuàng)新，奧林巴斯手持XRF分析儀相比傳統(tǒng)分析儀更具優(yōu)勢。

　　奧林巴斯Vanta手持式XRF分析儀中的X射線探測器有一個小窗口，可以讓X射線進入并到達探測器。沒有它，XRF分析儀將無法工作。此窗口的構成非常重要，會影響設備的有效性。輕元素（如鎂，鋁和硅）的X射線較弱，因此窗口越薄越輕，X射線可以通過的越多。X射線可以通過的越多，XRF分析儀的靈敏度越高。

　　很長一段時間，X射線探測器的窗口都是用鈹箔制成的。鈹雖然非常輕，但很難制造，而且易碎，有毒。即使是很輕微的撞擊也會損壞X射線探測器的窗口。如果窗口破裂，就需要更換整個探測器，成本較高。鈹窗的X射線探測器窗口大多數(shù)厚度為8微米或更厚。這會影響X射線的進入，降低對輕元素測試的靈敏度。

　　VantaVMR型號配備的是厚度僅為僅0.9微米厚的石墨烯探測器窗口，與傳統(tǒng)的鈹窗口相比，可以實現(xiàn)更好的光元件檢測。

　　石墨烯的優(yōu)點:

　　石墨烯由碳制成;即使窗口非常薄，它也非常堅固。石墨烯窗口允許更多的X射線通過，增加了分析儀對關鍵輕合金元素的敏感性，如鎂（Mg），鋁（Al），硅（Si），甚至磷（P）和硫（S）。此外，與鈹不同，石墨烯無毒。

　　石墨烯的*優(yōu)勢使Vanta系列VMR型號的手持式XRF分析儀能夠：

　　1、在鋁合金中檢測鎂（Mg）的速度更快（3秒內(nèi)可檢測到0.53％的鎂）

　　2、實現(xiàn)鎳合金中鋁（Al）的檢測下限更低

　　3、在低合金鋼中測量1000ppm以下的硅（Si），速度更快，精度更高

　　4、測量低合金鋼中的磷（P）和硫（S）低于0.035％

　　以上便是“奧林巴斯手持XRF分析儀”的優(yōu)勢介紹，手持XRF分析儀的優(yōu)勢當然不止于此，無論用于什么行業(yè)，總是快速準確檢測元素，更多關于奧林巴斯手持XRF分析儀的信息，可咨詢贏洲科技（上海）有限公司。