美國Spectral Products光譜儀SM245原理介紹

相關產品介紹：

光譜儀SM245

特征：

-低暗噪聲和雜散光

-靈活的光學輸入直接進入狹縫或通過光纖

-從頭開始設計，適用于廣泛的應用

-高速數據采集

-標準設計允許max 200-1050nm的范圍

-USB 1.1 / 2.0接口16位

-支持多達8個USB多通道配置

- 新型抗紫外線涂層

規格：

-光譜分辨率：0.25至10nm，取決于狹縫和光柵的選擇

-光譜范圍:200-1050nm

-光譜儀f＃:2.7

-光纖耦合器:SMA 905或FC標準

-雜散光:<0.05％@ 632nm（<0.1％平均）

-暗噪聲RMS:在16位@ 35ms積分時間內<35 RMS計數

-信噪比:> 300：1

-分鐘整合時間:1毫秒

-觸發方式:

 -自由運行模式

 -軟件觸發模式

 -外部觸發模式

-訂單排序過濾器:根據波長范圍安裝長通濾光片或線性可變濾光片

-電腦介面:USB 1.1 / 2.0 16位（至多支持8個多通道配置）

單色儀DK480

特征：

-通過RS 232或IEEE-488連接到任何計算機

-電動狹縫

-三光柵轉塔允許在寬光譜范圍內進行高效掃描

-可以在出廠時配置為單色儀或光譜儀

-雙向掃描并具有恒定的光譜分辨率（ CSR）

-與SP濾光片輪集成以實現自動濾光片切換

-適用于熒光和吸收研究，檢測器表征，薄膜測量等

規格：

-設計：Czerny-Turner：標準三重光柵刀塔

-焦距：480毫米

-F/＃：7.8

-相互分散：1.60nm / mm（使用1200 g / mm光柵）

-波長驅動：帶有微處理器控制的蝸輪和滾輪，雙向防反沖裝置。可按正或負光柵順序使用

-波長精度：0.01nm（使用1200 g / mm光柵）

-波長精度：±0.30nm標準（使用1200 g / mm光柵）

-掃描速度：1至1200nm / min（使用1200 g / mm光柵）

-雜散光：<0.01％@ 220nm（Nal）

-縫：  

 -單邊，計算機控制，彎曲入口和直出口標準。

 -寬度：10µm-3000µm

 -高度：2mm-20mm

-max分辨率：0.1nm（使用1200 g / mm光柵）

-光柵：必須購買1至3個光柵（68 x 68mm-標準），（68 x 84-可選）。

-有關選項，請參見DK光柵頁面。

-軟件：包括演示控制程序和LabView驅動程序。

-功率：100-240V-50 / 60Hz-60W 220/230 / 240V-50 / 60Hz @ 0.5A可選

-接口：RS 232標準

-重量：45磅

-保證：1年