多模式超聲波測厚儀 型號：DP-T180

多模式超聲波測厚儀  型號：DP-T180

DP-T180產品概要
DP-T180多模式超聲波測厚儀，基于超聲波傳播原理，可對金屬、塑料、陶瓷、玻璃及其他多種超聲波的良導體材料進行厚度測量，也可實現對材料聲速的反測。被廣泛應用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等領域的生產設備中各種管道及壓力容器腐蝕減薄程度的監測，也可用于對各種板材及各種加工零件的測量。

DP-T180技術參數
測量范圍 發射-回波模式下，(0.65～600)mm
（45#鋼，探頭分段適用）；
回波-回波模式下，(3～30)mm                
示值誤差 ±0.05mm（≤10mm）；±（0.5%H+0.01）mm(>10mm)；
H為被測物厚度
測量頻率 單點測量時每秒鐘7次、掃描模式每秒鐘16次
屏幕顯示 高對比度的段碼液晶顯示（支持EL背光顯示）
分 辨 率 0.1mm/0.01mm可切換
聲速范圍 (1000～9999)m/s（可對已知厚度物體反測聲速）
工作模式 發射-回波模式（P-E）和回波-回波（E-E）模式
探頭校準 零點校準、兩點校準
測厚模式 單點測量、值測量和差值測量
數據存儲 可存儲管理20組（每組100個）厚度數據
單位制氏 公制或者英制（可選）
通訊接口 USB1.1（可與PC通訊接口）
工作電源 兩節5號（AA尺寸）堿性電池，可連續工作50小時（默認亮度時）以上
自動節電 具有自動關機節電功能
外殼屬性 材質：ABS工程塑料；尺寸：150mm×74mm×32mm；重量：245g

功能特色
適用于測量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波良導體的厚度。
l兼備兩種測厚模式：發射-回波模式和回波-回波模式，可以穿透涂層進行厚度測量而不計入涂層厚度。
大容量存儲，低功耗設計，可超長待機數月以上。
已知厚度可以反測聲速，滿足多種材料的厚度檢測需求。
選配USB數據處理軟件，可連接電腦進行數據分析、存儲、打印等。
可以兼容多種不同頻率、不同晶片尺寸探頭，自動識別高溫、粗晶、小管徑等不同探頭

探頭選擇