美國LUMETRICS波前傳感器原理介紹

相關產品介紹：
OPTIGAUGE 2000儀器基于時域低相干干涉測量法。這項技術可以對任何對光測量透明或部分透明的材料進行厚度測量。使用中心波長約為2微米的紅外光。設計用于測量特殊和稀有材料。常規的玻璃和塑料材料也可以測量。我們的技術可實現快速的實時測量，可用于在線過程控制以及離線質量控制。
主要特點：
-測量范圍：100ΜM-16MM
-精度±1.0ΜM
-單層和多層測量
-連續內部校準
-NIST可追溯性
-臺式或機架安裝

CLAS-2D波前傳感器將干涉儀，光束輪廓儀和光束質量儀的功能整合在一臺儀器中，以提供準確的波前測量和激光輪廓分析。
該系統軟件是業內靈活軟件，可以分析光學像差，包括像散，球差，聚焦誤差/準直，傾斜等。此外，CLAS-2D還測量M2光束質量，MTF，近場和遠場光束發散度以及其他光束參數。
主要特點：
-激光束診斷
-光學測試
-對準
-角度測量
-準直
-表面測量

CRYSTALWAVE人工晶狀體精密像差儀是一種高度靈敏的光學儀器，專門設計用于使用10,000個小透鏡的柵格來測量人工晶狀體。它使您可以通過使用或不使用可選模型眼的WAVEFRONT測量來計算MTF。CRYSTALWAVE 765還包括可用于視覺檢查的攝像機。與我們的CLAS-2D服務器軟件兼容，您還可以使用LABVIEW，VISUAL BASIC或其他語言編寫CRYSTALWAVE 765的應用程序，以直接控制生產線環境中的儀器。
主要特點：
-測量范圍包括球面度數，圓柱度，軸，彗差，三葉形和其他高階像差

-使用綠色光源進行的測量符合ISO 11979