美國AFMWorkshop原子力顯微鏡

美國AFMWorkshop原子力顯微鏡

AFMWorkshop是美國和市場的原子力顯微鏡制造公司。設計和制造高性能的低價原子力顯微鏡，滿足嚴格的研究應用，日常行業任務和廣泛的教育需求。通過AFMWorkshop設計和制造的模塊化原子力顯微鏡現在用于世界各地所研究人員在材料科學和生命科學; 通過產業在工藝開發和過程控制光子學，半導體和其他領域; 并通過教育學生訓練和研究。通過不斷的研究創新，為客戶提供更高品質和性能的產品。

產品范圍：

美國AFMWorkshop原子力顯微鏡、探針、振動臺、掃描儀探針。

主要型號：

B-AFM、TT-2 AFM、NP-AFM、LS-AFM、SA-AFM

應用領域:

教育、科學研究、生物、化學、光子學、半導體

相關產品介紹：

原子力顯微鏡

由AFMWorkshop制造的原子力顯微鏡和AFM系統設計有基本掃描功能，可以高分辨率獲得高質量的AFM圖像，以及LabVIEW中開發的靈活掃描軟件。這些模塊化AFM可用于各種研究，工業和教育環境。應用包括納米技術，生命科學和生物學，工藝開發和控制，聚合物表征以及其他科學和工程領域。這些原子力顯微鏡具有高達0.08納米的高分辨率，具有業內高的性價比。

40微米XY掃描儀

-類型：改裝三腳架

-xy線性度：<1％

-xy范圍：>40μm

-xy分辨率：<3 nm閉環

  <0.3 nm開環

-xy執行器類型：Piezo

-xy傳感器類型：應變計

16微米Z掃描儀/探頭支架包括空氣，扣籃和掃描

-噪音：<0.2納米

-應變計分辨率：1 nm

-尖角：10°

-Z線性度：<5％

-Z線性傳感器：<1％