鍍層測厚儀

來源：深圳市大茂電子有限公司 2008年03月12日 11:29

CMI900（X熒光鍍層測厚儀）

應用

CMI900X射線熒光，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產力，高再現性等優點的

情況下進行表面鍍層厚度的測量，從質量管理到成本節約有著廣泛的應用。

行業

用于電子元器件，半導體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器……多個行業表面鍍層厚

度的測量。

技術參數

主要規格                           規格描述

X射線激發系統                   垂直上照式X射線光學系統

                                       空冷式微聚焦型X射線管，Be窗

                                       標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等

                                       功率：50W4-50kV，0-1.0mA－標準

                                        75W4-50kV，0-1.5mA－任選

                                       裝備有安全防射線光閘

                                       二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片

                                       任選

準直器程控交換系統            zui多可同時裝配6種規格的準直器

                                       多種規格尺寸準直器任選：

－圓形，如4、6、8、12、20 mil等

－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

測量斑點尺寸在12.7mm聚焦距離時，zui小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055mm

使用0.025 x 0.05 mm準直器

在12.7mm聚焦距離時，zui大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm

使用0.3mm準直器

樣品室

－樣品室結構                      開槽式樣品室

－zui大樣品臺尺寸                610mm x 610mm

－XY軸程控移動范圍            標準：152.4 x 177.8mm
                                        還有5種規格任選

－Z軸程控移動高度               43.18mm

－XYZ三軸控制方式              多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、

XYZ三軸手動控制

－樣品觀察系統高分辨彩色CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。

（50倍和100倍觀察系統任選。）

激光自動對焦功能

可變焦距控制功能和固定焦距控制功能

計算機系統配置 IBM計算機

惠普或愛普生或佳能彩色噴墨打印機

分析應用軟件操作系統：WindowsXPOEM中文平臺

分析軟件包：                       SmartLink FP軟件包

－測厚范圍                          可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。

－基本分析功能                   采用基本參數法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準

                                         樣品。

樣品種類：                          鍍層、涂層、薄膜、液體鍍液中的元素含量

                                         可檢測元素范圍：Ti22 – U92

                                         可同時測定5層/15種元素/共存元素校正

                                         貴金屬檢測，如Au karat評價

                                         材料和合金元素分析，

                                         材料鑒別和分類檢測

                                         液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量

                                         多達4個樣品的光譜同時顯示和比較

                                         元素光譜定性分析

－調整和校正功能                 系統自動調整和校正功能，自動消除系統漂移

－測量自動化功能                 鼠標激活測量模式：“PointShoot”

                                         多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式和重復

                                         測量模式

                                         測量位置預覽功能

                                         激光對焦和自動對焦功能

－樣品臺程控功能                 設定測量點

                                         連續多點測量

                                         測量位置預覽

－統計計算功能                    平均值、標準偏差、相對標準偏差、zui大值、zui小值、數據變動范圍、

                                         數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖

                                         數據分組、X-bar/R圖表、直方圖

                                         數據庫存儲功能

                                         任選軟件：統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書

－系統安全監測功能              Z軸保護傳感器

                                         樣品室門開閉傳感器

●精度高、穩定性好

●強大的數據統計、處理功能

●測量范圍寬

●NIST認證的標準片

●服務及支持

相關產品

免責聲明

凡本網注明“來源：儀表網”的所有作品，均為浙江興旺寶明通網絡有限公司-儀表網合法擁有版權或有權使用的作品，未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經本網授權使用作品的，應在授權范圍內使用，并注明“來源：儀表網”。違反上述聲明者，本網將追究其相關法律責任。
本網轉載并注明自其它來源（非儀表網）的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網贊同其觀點或和對其真實性負責，不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網站或個人從本網轉載時，必須保留本網注明的作品第一來源，并自負版權等法律責任。
如涉及作品內容、版權等問題，請在作品發表之日起一周內與本網聯系，否則視為放棄相關權利。