影響測量儀新發展趨勢

影響測量儀的發展趨勢

全自動影響測量儀是在數字化影像測量儀基礎上發展起來的人工智能型現代光學費接觸測量儀器，其承續了數字化儀器優異的運動精度與運動操控性能，融合機器視覺軟件的設計靈性，屬于當今前沿的光學尺寸檢測設備。我司生產的全自動影響測量儀能夠便捷而快速的進行坐標測量與SPC結果分類，滿足現代制造業對尺寸檢測日益突出的要求：更高速，更便捷，更的測量需要，解決制造業發展中的又一個瓶頸技術。

全自動影響測量基于機器視覺的自動邊緣提取，自動取匹，自動對焦，測量合成，影響合成等人工智能技術，具有：點哪走哪自動測量，自動學習批量測量，影響地圖目標指引優異功能。同時，基于機器視覺與微米控制下的自動對焦過程，可以滿足清晰造影下輔助測高需要（亦可加入觸電側頭完成坐標測高），支持空間坐標旋轉的優異軟件性能，可在工件隨意放置的情況下進行批量測量，亦可使用夾具進行大批量掃描測量與SPC結果分類。

全自動影響測量儀是影像測量技術的階段，具有高度智能化與自動化特點。其優異的軟硬件性能讓坐標尺寸變得便捷而愜意，擁有基于機器視覺與過程控制的自動學習功能，依托數字化儀器高速而的微米級走位，可將測量過程的路徑，對焦，選點功能切換，人工修正，燈光匹配等操作過程自學并記憶。

全自動影響測量儀可以輕松學會操作員的所有實操過程，結合其自動對焦和區域搜尋功能，目標鎖定，邊緣提取，理匹選點的模糊運算實現人工智能，可自動修正由工件差異和走位差別導致的便宜實現選點，具有高精度的重復性，從而使操作人員從疲勞目視對位，頻繁選點，重復走位，功能切換等單調操作和日益繁重的待測任務中解脫出來，成倍的提高工件批測效率，滿足工業抽檢與大批量檢測需要。