牛津儀器為電子行業推出高性價比的過程控制應用方案

牛津儀器工業分析部，作為的高質量材料鑒定與鍍層測厚儀器的供應商，現在宣布推出技術應用報告：使用臺式X射線熒光光譜儀X-Strata920實現PTZ陶瓷鍍銀分析，符合ISO3497和ASTM B568標準。

牛津儀器公司于2012年發布了X射線熒光光譜儀X-Strata920，用于鍍層厚度測量和材料分析。這次的應用報告展示了X-Strata920能夠地完成鍍層厚度測量，并按照檢測方法ISO347和ASTM B568檢測金屬和一些非金屬鍍層。由于這款儀器裝有大面積探測器和牛津儀器自行研發的微焦距X射線光管，它能夠提供高強度小斑點的X射線光束，從而滿足更好地樣品激發和元素檢測。經過驗證，X-Strata920是檢測金屬鍍層的工具。而且，它能保證在同級別儀器中性*，幾秒鐘就獲得分析結果，確保過程控制更好、成本更低、效率更高。

X-Strata920性能，能夠低成本率地對各種行業中的多鍍層裝配件進行質量控制分析，包括電子行業、五金電鍍、合金和貴金屬檢測。對于這些行業，X-Strata920能為客戶帶來：

·         加強過程控制，提高生產力
·         把電鍍過程的成本降到zui低
·         對珠寶和其他合金進行快速無損分析
·         提供多達4層的分析，比如電子器件鍍層Au/Ni/Cu、Pd/Ni/Cu、Ag/Sn/Cu等的檢測
·         經過認可的技術能確保可靠性更佳，今后不斷帶來價值回報
·         保證操作簡單，基本不需要培訓，結果不會隨操作人員變化而變化
對于常規操作，X-Strata920分析結果可導出到不可編輯的PDF文件以確保數據安全性，或者也可以通過網絡直接導出到Excel文件。現在這份報告重點介紹X-Strata920在PTZ陶瓷鍍銀的分析。如果想獲得這份應用報告，請發送郵件到industrial@oxinst.com并在主題中注明“X-Strata920在PTZ陶瓷鍍銀的應用報告”。