"工業的維生su"

稀土元素被譽為"工業的維生su"，具有豐富的磁、光、電等特性，在現代產業和功能材料中起到了至關重要的作用。這些材料主要包括稀土永磁材料、稀土催化材料、發光材料、貯氫材料、磁制冷材料、光導纖維、磁光存儲材料、巨磁阻材料、稀土激光材料、超導材料、介電材料等，在航空、航天、信息、電子、能源、交通、醫療衛生等領域得到了廣泛的應用。

高純稀土通常是指純度高于99.99%的稀土金屬或其氧化物。高純稀土材料中存在的其它稀土雜質元素常會對最終產品的功能產生影響，隨著提煉技術的不斷改進，使得稀土氧化物純度可達到6N（行業上通指稀土雜質元素含量），從而對于痕量稀土雜質測定方法提出了更高的要求。針對高純稀土中的雜質檢測會有下面難點。

主基體的濃度太高，會干擾雜質元素的檢測

對于高純稀土中的雜質檢測，往往樣品是5N（99.999%）及以上級別含量非常低，需要儀器有足夠高的靈敏度

案例

分析

測定6N級高純稀土氧化釓

(Gd2O3 )中的14種稀土雜質

目前氧化釓中稀土雜質檢測方法主要依據國標GB/T18115.7中的電感耦合等離子體發射光譜法( ICP-OES) 和質譜法( ICP-MS)。

在ICP-OES分析中，由于Gd的譜線十分密集，對其他稀土雜質元素的譜線干擾非常嚴重，測定范圍在0.001%-0.05%之間，難以滿足更高純度要求。

單桿ICP-MS 質譜法具有更低的檢出限，但Gd具有7個天然豐度同位素，當采用SQ-ICP-MS方法進行氧化釓中其它稀土雜質元素分析時，Yb和Lu將受到嚴重的[ 152 154 155 156 157 158 160 Gd16 17 18 O]+和[ 152 154 155 156 157 158 160 Gd 16 17 18 OH]+類多原子類干擾，在現有的GB/T18115.7標準方法中，針對氧化釓中鐿和镥的測定制定了采用C272柱分離釓基體后再進行ICP-MS法測定方案，各雜質元素的最di定量下限可達0.0001%，能夠實現近5N級釓純度的測定。但這種分離技術非常費時，步驟繁瑣，對方法測定結果的影響因素多。

"賽默飛三重四極桿ICPMS"

賽默飛三重四極桿ICPMS不經任何基體分離手段，能輕松解決高純稀土元素中雜質元素檢測的干擾問題，為高純稀土質量提供有力質量控制手段。

（點擊查看大圖）

實驗測定結果

（點擊查看大圖）

iCAP TQ 三重四極桿ICPMS-高純稀土元素檢測利器

超qiang抗干擾neng力

利用 Q1的iMS智能化質量篩選功能可有效地將高純稀土基體離子進行剔除，然后通過Q2碰撞反應池中加入特定的反應氣體，如氧氣或者氨氣，將待測稀土雜質離子或者基體氧化物離子的質量數進行遷移，解決了質量數重疊干擾。

簡單操作

賽默飛Qtegra™ 智能科學數據處理軟件（ISDS™）通過自帶的Reaction Finder 軟件工具，能夠自動為分析任務確定*測量模式，幫助用戶方便地建立方法，節省了日常方法建立所消耗的時間。

為全國稀土行業的客戶提供解決方案

賽默飛采用iCAP TQ ICPMS/MS三重四極桿質譜儀無需采用繁雜的分離稀土基體技術，就能輕松去除基體元素形成的干擾，從而準確測定稀土雜質元素的含量，為全國稀土行業的客戶提供解決方案以滿足行業發展的迫切需求。

如需合作轉載本文，請文末留言。