JKTHMS-600光學冷熱臺是使用 為廣泛的高精度冷熱臺。其寬泛的溫度范圍（-196°C到600°C）和升溫速率（0.1到150°...

測量地質流體包裹體的均一化溫度和冰點溫度是地質流體包裹體研究中一項重要的內容。JKMDSG-600型地質冷熱臺是專門為此目的而設計的。高導熱的銀質加熱臺、高精度...

JKMDS-600型半導體冷熱臺是使用 為廣泛的THMS600型高精度冷熱臺的加強型。其寬泛的溫度范圍（-196°C到600°C）和升溫速率...

JKLR-420E型高低溫半導體冷熱臺是為液晶研究而設計的。為了給樣品施加電場或測量樣品的信號，在常規冷熱臺的基礎上增加了內部電極，并配有液晶池和載物臺。同時由...

JKLR-420高低溫半導體冷熱臺是可以使用顯微鏡載物片載樣，且容易使用的通用型冷熱臺。此系列冷熱臺為大區域冷熱臺，主要用于等溫分析，不需要非常高的加熱和冷卻速...

JKLR-120型顯微鏡冷熱臺是全功能配置、即插即用的冷熱臺系統，由珀耳帖冷熱臺、溫度控制器和循環水泵組成。冷卻過程不需要液氮，使用循環水即可以達到-25
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SMDR-1600型超高溫導熱儀|導熱系數測試儀主要測試含碳耐火材料，石墨氈，碳氈，石墨等靜壓碳棒等低導熱系數材料的導熱系數。

SMA-100A型飽和磁性分析儀是以磁天平法為基礎并配用近代電子技術發展起來的一種新型磁測儀器。分析儀施加在樣品上的磁場很強足以使樣品中的磁性成分飽和，該分析儀...

TFRT-300型薄膜變溫電阻測試儀是一款多用途的電阻測試儀，即可應用于金屬、半導體、導電高分子薄膜（或塊材）電阻率和磁阻的測量，也可以應用于鐵磁/非鐵磁/鐵磁...

HTIM-1000A高溫電阻測試儀采用四端測量方法在高溫環境下對導電及半導電材料的電阻進行評估，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體...

BKTEM-DX型熱電性能測試平臺是一種用于熱電器件（TEGs）溫度相關轉換效率評估的測量系統。該模塊位于熱板和冷板之間，其中熱板連接到可調節加熱器，冷板連接到...

PZT-JH30/1型 PVDF/聚合物、（TRFE）薄膜電暈極化裝置PZT-JH30/1壓電復合極化裝置主要用于30KV以下壓電陶瓷或PVDF等薄壓電材料的極...

PVDF-600型連續式壓電薄膜極化裝置是一款生產型極化裝置主要用于PVDF壓電薄膜的極化處理，該設備采用先進電極，的處理工藝，可以快速均勻的處理PVDF成批生...

PEA-100型電聲脈沖法測試系統用途：使用聲學技術的空間電荷測量已成為研究固體材料介電性能的常用方法。脈沖電聲（PEA）方法已用于各種工業應用。例如用于離子導...

BLDL-1000型高溫金屬熔融電導率測試裝置是一款專門應用于金屬電導率測量的，它是一種在高溫下測量金屬材料在高溫下熔融的電導率(電阻率）的裝置。熔體的電導率是...

放電等離子體優點放電等離子體燒結由于強脈沖電流加在粉末顆粒間，因此可產生諸多有利于快速燒結的效應。其相比常規燒結技術，放電等離子體燒結融等離子活化、熱壓、電阻加...

TCR-1200型金屬材料高溫電阻測試儀是衡量金屬電阻隨溫度變化的一個物理量，它表示當溫度改變1攝氏度時，電阻值的相對變化。TCR的單位通常為ppm/℃，其中p...

NDH-5型電線電纜耐電痕試驗儀產品概述：漏電痕跡：在規定試驗條件，固體絕緣材料在電場及電解液的聯合作用下，其表面逐漸形成的導電通路叫漏電痕跡。電痕化：形成漏電...

ZJ-3A/B型壓電測試儀（豎向，共面D33-D31-D15）是為測量壓電材料的d33常數而設計的專用儀器，它可用來測量具有大壓電常數的壓電陶瓷，小壓電常數的壓...

ZT-4A（X）型電滯回線測量儀是一代鐵電材料參數測試儀適用于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可塊體材料）的電性能測量，可測量鐵電薄膜電滯回線、I—V特性及開關特性，可...