| ●仕様 | LE-200J |
|---|
|
| 測定方式 | 電磁誘導式 |
|
| 測定対象 | 磁性金屬上の非磁性被膜 |
|
| 測定範囲 | 0～1500μmまたは60.00mils |
|
| 測定精度 | 15μm未満：±0.3μm、15μm以上：±2％ |
|
| 分解能 | 100μm未満：0.1μm、100μm以上：1.0μm |
|
| 適合規格 | JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376 |
|
| 統計機能 | 測定回數?平均値?標準偏差?zui大値?zui小値?ブロック番號 |
|
| プローブ | 一點接觸定圧式（LEP-J） |
|
| 表示方法 | デジタル（LCD、表示zui小桁0.1μm） |
|
| 外部出力 | RS-232Cインターフェース（転送速度2400bps） |
|
| 電源 | AC100V（50/60Hz）または
電池1.5V（単3アルカリ）本體部×6、プリンタ部×4 |
|
| 寸法?質量 | 120（W）×250（D）×55（H）mm、1.0kg |
|
| 付屬品 | 標準板、鉄素地、標準板ケース、電池1.5V（単3アルカリ）、ACアダプタ、プローブアダプタ、プリンタ用紙、キャリングケース |
|
| オプション | L字型プローブ（LEP-21L）、RS-232C接続ケーブル、データ管理ソフト「データロガーKLD-01」、「McWAVE Lite」、「McWAVE Standard」、「McWAVE Professional、「MultiProp」 |
