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變頻介質(zhì)損耗測試儀

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產(chǎn)品型號JSY-03

品牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所在地上海市

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更新時間：2021-04-08 10:29:13瀏覽次數(shù)：210次

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變壓器油介質(zhì)損耗測試儀

變頻介質(zhì)損耗測試儀

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  米遠(yuǎn)
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上海米遠(yuǎn)電氣有限公司

經(jīng)營模式：生產(chǎn)廠家

商鋪產(chǎn)品：2063條

所在地區(qū)：上海上海市

聯(lián)系人：袁小姐（經(jīng)理）

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產(chǎn)品簡介

JSY-03變頻介質(zhì)損耗測試儀大屏幕帶背光中文液晶顯示器，菜單提示操作，使用方便。內(nèi)置打印機(jī)，及時打印保存測試數(shù)據(jù)。

詳細(xì)介紹

JSY-03變頻介質(zhì)損耗測試儀

變頻介質(zhì)損耗測試儀產(chǎn)品簡介：

電氣設(shè)備絕緣介質(zhì)損耗因數(shù)（tgδ）測試是電力系統(tǒng)絕緣檢測zui精密、zui主要和zui常用的試驗(yàn)方法之一。測試tgδ值可有效發(fā)現(xiàn)絕緣的受潮、絕緣分層、穿透性導(dǎo)電通道、絕緣老化污穢等缺陷。但是常規(guī)試驗(yàn)儀器現(xiàn)場測試tgδ時，存在接線復(fù)雜、抗*力差和反接法測試數(shù)據(jù)誤差大等缺點(diǎn)。介質(zhì)損耗測試儀采用抗干擾技術(shù)，操作簡單安全，測試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確，符合國家新頒布電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)《高壓介質(zhì)損耗測試儀通用技術(shù)條件 DL/T962-2005》的要求。
儀器全稱：抗干擾高壓介質(zhì)損耗測試儀

儀器別稱：介損測試儀、介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀、介損儀、tgδ測試儀、tanδ測試儀、介損電橋測試儀、介質(zhì)損耗測試裝置

主要特點(diǎn)和功能：

☆ 具有多種測試方式：可選擇正/反接線、內(nèi)/外標(biāo)準(zhǔn)電容器和內(nèi)/外試驗(yàn)電壓進(jìn)行測試，可測CVT，適應(yīng)不同現(xiàn)場要求。

☆ 內(nèi)置SF6標(biāo)準(zhǔn)電容器，tgδ<0.005%，受空氣濕度影響小。

☆ 抗干擾效果好：采用抗干擾技術(shù)，能有效地消除現(xiàn)場電場干擾對測試的影響，適用于500kV及以下電壓的強(qiáng)干擾現(xiàn)場試驗(yàn)。

☆ 高壓短路和突然斷電時，儀器能迅速切斷高壓，并發(fā)出警告信息。

☆ 測試重復(fù)性好，測試準(zhǔn)確度不受電壓影響。

☆ 一體化結(jié)構(gòu)，重量適中，便于攜帶。

☆ 大屏幕帶背光中文液晶顯示器，菜單提示操作，使用方便。

☆ 內(nèi)置打印機(jī)，及時打印保存測試數(shù)據(jù)。

☆ 高壓電纜連接至試品，保證安全；儀器未接地報(bào)警，安全措施完善。

主要技術(shù)參數(shù)：

☆ 額定工作條件：
環(huán)境溫度：0~40℃（當(dāng)溫度超出20℃±5℃時，每變化10℃儀器基本誤差的改變量不超過基本誤差限的1/2）
相對濕度：30%~85%

☆ 供電電源：電壓：220±10%V，頻率：50±1Hz

☆ 外型尺寸：450×330×380 mm3

☆ 儀器重量：≤16kg

☆ 電子電路功耗：不大于40VA

☆ 測試范圍：
1.介質(zhì)損耗（tgδ）測試范圍 0～1 ，分辨率0.0001

2.電容量（Cx）分辨率0.01PF，測試范圍如下：

（1）內(nèi)接方式

試驗(yàn)電壓
試品電容量

5KV 7.5KV 10KV
3PF~40000PF

1.5KV 2.25KV 3K
10PF~0.35μF

0.5kV 0.75kV 1kV
30PF~1.5μF

（2）外接方式
“外接升壓器”方式zui高試驗(yàn)電壓10kV；
“外接Cn”方式（外接高壓、外接標(biāo)準(zhǔn)電容器）zui高試驗(yàn)電壓由標(biāo)準(zhǔn)電容器和被試品決定（Umax=Imax/ωC）。
標(biāo)準(zhǔn)回路zui大電流50mA(In=UωCn) ，被試回路zui大電流2A（Ix=UωCx）

☆ 內(nèi)部升壓器輸出能力

試驗(yàn)電壓
額定輸出電流

5KV 7.5KV 10KV
100mA

1.5KV 2.25KV 3K
300mA

0.5kV 0.75kV 1kV
500mA

☆ 基本測試誤差
產(chǎn)品在環(huán)境溫度20℃±5℃、相對濕度30%~85%的條件下，基本測試誤差應(yīng)符合下表規(guī)定。
測試內(nèi)容
電容量范圍（Cx）
試品是否接地
基本誤差

介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ
50pF~60000pF
不接地
±(1%讀數(shù)+0.0005)

接地
±(1%讀數(shù)+0.0010)

10pF~50pF或60000pF以上
不接地
±(1%讀數(shù)+0.0010)

接地
±(2%讀數(shù)+0.0020)

3pF~10pF
接地與不接地

電容量
50pF以上
接地與不接地
±(1%讀數(shù)+1pF)

50pF以下
±(1%讀數(shù)+2pF)