手機可靠性實驗

 
6.4.3 對設(shè)計人員或可靠性測試人員的要求或問題等及時地傳達；
6.5 編制、修改、評審、審批、更新職責
可靠性實驗室編制、修改、及時更新和協(xié)調(diào)各公司質(zhì)量部人員評審本試驗程序，由管理層審批。

7. 可靠性測試程序
7.1. 加速壽命測試ALT （Accelerated Life Test）
樣機標準數(shù)量：

PR1：8臺 PR2：10臺 PR3：10臺 PIR：10臺
試驗周期： 10-12天
測試目的： 通過連續(xù)的施加各種測試條件，加速產(chǎn)品的失效，提前暴露潛在問題。
試驗流程： 見下圖，其中Thermal Shock 和1st Drop測試的時間間隔應不超過4小時；Temp/Humidity和2ndDrop測試的時間間隔應不超過4小時。每項測試完成都應進行表面，外觀，結(jié)構(gòu)和功能檢查。（表面，外觀和結(jié)構(gòu)檢查參考賽福同舟《手機綜合檢驗標準》QC3001;功能檢查參考附錄二。下同）。
測試標準：
7.1.1 室溫下參數(shù)測試 （Parametric Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的： 測試預檢查
測試方法：使用8960/8922測試儀，參照附件1（下同）項目列表，對所有樣品進行參數(shù)指標預測試并保存測試結(jié)果。
測試標準：所有附件1中參數(shù)指標正常，功能正常。
 

 
打開靜電模擬器，調(diào)節(jié)放電方式，分別選擇+/-4kV(接觸放電)，~+/-8kV（空氣放電），對手機部位連續(xù)放電10次，并對地放電。每做完一個部位的測試，檢查手機功能、信號和靈敏度，并觀察手機在測試過程中有無死機，通信鏈路中斷，LCD顯示異常，自動關(guān)機及其他異常現(xiàn)象。
樣機需在與8922測試儀建立起呼叫連接的狀態(tài)下進行各個放電方式、級別和極性的測試。
試驗標準：在+/-4Kv 和 +/-8Kv時出現(xiàn)任何問題都要被計為故障。

備注：靜電釋放位置的確定要依據(jù)產(chǎn)品的具體情況進行定義。

7.1.7室溫下參數(shù)測試 （Parametric Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的： 測試結(jié)束后參數(shù)對比
測試方法：使用8960/8922測試儀，參照附件1項目列表，對所有樣品進行參數(shù)指標測試。
測試標準：所有附件1中參數(shù)指標正常，功能正常。



7.2.氣候適應性測試 （Climatic Stress Test）
樣品標準數(shù)量：一般氣候性測試 4 臺； 惡劣氣候性測試 2 臺。共8臺。
測試周期：7 天。
測試目的： 模擬實際工作環(huán)境對產(chǎn)品進行性能測試
測試流程：見下圖。

一般氣候性測試 惡劣氣候性測試
A： 一般氣候性測試：
7.2.1.高溫/低溫參數(shù)測試（Parametric Test）
測試環(huán)境：-10° C /+55° C
測試目的：高溫/低溫應用性性能測試
試驗方法：將手機電池充滿電，手機處于開機狀態(tài)，放入溫度實驗箱內(nèi)的架子上，調(diào)節(jié)溫度控制器到-10° C /+55°C。持續(xù)2個小時之后在此環(huán)境下進行電性能參數(shù)和功能檢查。對于翻蓋手機，應將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開翻蓋；對于滑蓋手機，應將一半樣品滑開到上限位置。
試驗標準：手機電性能參數(shù)指標滿足要求，功能正常，外殼無變形。


7.2.2.高溫高濕參數(shù)測試（Parametric Test）
測試環(huán)境：+45° C，95%RH
測試目的：高溫高濕應用性性能測試
試驗方法：將手機電池充滿電，手機處于開機狀態(tài)，放入溫度實驗箱內(nèi)的架子上。持續(xù)48個小時之后，然后在此環(huán)境下進行電性能檢查，檢查項目見附表1。對于翻蓋手機，應將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開翻蓋；對于滑蓋手機，應將一半樣品滑開到上限位置。
試驗標準：手機電性能指標滿足要求，功能正常，外殼無變形。


7.2.3.高溫/低溫功能測試（Functional Test）
測試環(huán)境：-40° C /+70° C
測試目的：高溫/低溫應用性功能測試
試驗方法：將手機處于關(guān)機狀態(tài)，放入溫度實驗箱內(nèi)的架子上。持續(xù)24個小時之后，取出，并放置2小時，恢復至常溫，然后進行結(jié)構(gòu)，功能和電性能檢查。對于翻蓋手機，應將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開翻蓋；對于滑蓋手機，應將一半樣品滑開到上限位置。
試驗標準：手機電性能指標滿足要求，功能正常，外殼無變形。


B：惡劣氣候性測試
7.2.4.灰塵測試（Dust Test）
測試環(huán)境：室溫
測試目的：測試樣機結(jié)構(gòu)密閉性
試驗方法：將手機關(guān)機放入灰塵實驗箱內(nèi)。灰塵大小300目，持續(xù)3個小時之后，將手機從實驗箱中取出，用棉布和離子風槍清潔后進行檢查。對于翻蓋手機，應將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開翻蓋；對于滑蓋手機，應將一半樣品滑開到上限位置。
試驗標準：手機各項功能正常，所有活動元器件運轉(zhuǎn)自如，顯示區(qū)域沒有明顯灰塵。


7.2.5.鹽霧測試（Salt fog Test）
測試環(huán)境：35° C
測試目的：測試樣機抗鹽霧腐蝕能力
試驗方法：
溶液含量：5%的氯化鈉溶液。
將手機關(guān)機放在鹽霧試驗箱內(nèi)，合上翻蓋，樣機用繩子懸掛起來，以免溶液噴灑不均或有的表面噴不到。
樣機需要立即被放入測試箱。實驗周期是48個小時。實驗過程中樣機不得被中途取出，如果急需取出測試，要嚴格記錄測試時間，該實驗需向后延遲相同時間。
取出樣機后，用棉布和離子風槍清潔，放置48小時進行常溫干燥后，對其進行外觀、機械和電性能檢查。
試驗標準：手機各項功能正常，外殼表面及裝飾件無明顯腐蝕等異常現(xiàn)象。


7.3.結(jié)構(gòu)耐久測試 （Mechanical Endurance Test）
樣品標準數(shù)量：11 臺。
測試周期：7 天。
測試流程：
測試標準：
7.3.1.按鍵測試（Keypad Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：按鍵壽命測試
測試數(shù)量：2臺手機。
測試方法：將手機設(shè)置成關(guān)機狀態(tài)固定在測試夾具上，導航鍵及其他任意鍵進行10萬次按壓按鍵測試。進行到3萬次、5萬次、8萬次、10萬次時各檢查手機按鍵彈性及功能一次。實驗中被測試的鍵的選擇根據(jù)不同機型進行確定并參考工程師的建議，應盡量不重復，盡可能多。
試驗標準：手機按鍵彈性及功能正常。


7.3.2.側(cè)鍵測試（Side Key Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：側(cè)鍵壽命測試
測試數(shù)量：1臺手機
測試方法：將手機設(shè)置成關(guān)機狀態(tài)固定在測試夾具上，對側(cè)鍵進行10萬次按壓按鍵測試。進行到3萬次、5萬次、8萬次、10萬次時各檢查手機按鍵彈性及功能一次。
試驗標準：手機按鍵彈性及功能正常。
7.3.3.翻蓋測試（Flip Life Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：翻蓋壽命測試
測試數(shù)量：4臺手機。
測試方法：將手機設(shè)置成開機狀態(tài)，固定在測試夾具上，進行5萬次開合翻蓋測試。進行到3萬次、4萬次、4. 5萬次、5萬次時進行手機翻蓋彈性及功能一次。
試驗標準：5萬次后，手機外觀，結(jié)構(gòu)，及功能正常。


7.3.4.滑蓋測試（Slide Life Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：滑蓋壽命測試
測試數(shù)量：4臺手機。
測試方法：將手機設(shè)置成開機狀態(tài)，固定在測試夾具上，進行5萬次滑蓋測試。進行到3萬次、4萬次、4. 5萬次、5萬次時進行手機滑蓋手感及功能一次。
試驗標準：5萬次后，手機外觀，結(jié)構(gòu)，及功能正常,滑蓋不能有松動(建議:垂直手機時不能有自動下滑的現(xiàn)象)


7.3.5. 重復跌落測試（Micro-Drop Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；7cm高度 ,20mmPVC板
測試目的：樣機跌落疲勞測試
測試數(shù)量：2臺。
測試方法：手機處于開機狀態(tài)，做手機正面及背面的重復跌落實驗，每個面的跌落次數(shù)為20,000次。進行到1萬次、1.5萬次、1.8萬次、2萬次時各檢查對手機進行外觀、機械和電性能的中間檢查。
測試標準：手機各項功能正常，外殼無變形、破裂、掉漆，顯示屏無破碎，晃動無異響。


7.3.6. 充電器插拔測試（Charger Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：充電器插拔]壽命測試
測試數(shù)量：2臺手機。
試驗方法：將充電器接上電源，連接手機充電接口，等待手機至充電界面顯示正常后，拔除充電插頭。在開機不插卡狀態(tài)下插拔充電3000次。進行到2000次、2500次和3000次時進行中間/結(jié)束檢查一次。
檢驗標準：I/O接口無損壞，焊盤無脫落，充電功能正常。無異常手感。


7.3.7.筆插拔測試（Stylus Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：手機手寫筆插拔壽命測試
測試數(shù)量：2臺手機。
試驗方法：將手機處于開機狀態(tài)，筆插在手機筆插孔內(nèi)，然后拔出，反復20，000次。進行到1萬次、1萬5千次、1萬8千次、2萬次時檢查手機筆插入拔出結(jié)構(gòu)功能、外殼及筆是否正常。
檢驗標準：手機筆輸入功能正常，插入拔出結(jié)構(gòu)功能、外殼及筆均正常。


7.３.８點擊試驗 (Point Activation Life Test)
試驗條件：觸摸屏測試儀（接觸墊半徑為3.75mm；硬度為40deg的硅樹脂橡膠）
測試目的：觸摸屏點擊壽命測試
樣品數(shù)量：1臺
試驗方法：將手機設(shè)置為開機狀態(tài)，點擊LCD的中心位置250,000次，點擊力度為250g；點擊速度：2次/秒；
檢驗標準：不應出現(xiàn)電性能不良現(xiàn)象；表面不應有損傷


7.３.9劃線試驗 (Lineation Life Test)
試驗條件：觸摸屏測試儀，直徑為0.8mm的塑料手寫筆或隨機附帶的手寫筆
測試目的：觸摸屏劃線疲勞測試
樣品數(shù)量：1臺
試驗方法：將手機設(shè)置為關(guān)機狀態(tài)，在同一位置劃線至少100,000次，力度為250g；
滑行速度：60mm/秒
檢驗標準：不應出現(xiàn)電性能不良現(xiàn)象；表面不應有損傷


7.3.10.電池/電池蓋拆裝測試（Battery/Battery Cover Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：電池/電池蓋拆裝壽命測試
測試數(shù)量：2臺。
試驗方法：將電池/電池蓋反復拆裝2000次。進行到1500次、1800次和2000次時檢查手機及電池/電池蓋各項功能、及外觀是否正常。
檢驗標準：手機及電池卡扣功能正常無變形，電池觸片、電池連接器應無下陷、變形及磨損的現(xiàn)象，外觀無異常。


7.3.11. SIM Card 拆裝測試（SIM Card Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；

 
測試目的：SIM卡拆裝壽命測試
測試數(shù)量：2臺手機。
試驗方法：插上SIM卡，然后取下SIM卡，再重新裝上，反復1000次，每插拔100次檢查開機是否正常，讀卡信息正常。
檢驗標準：SIM卡觸片、SIM卡推扭開關(guān)正常，手機讀卡功能使用正常。


7.3.12. 耳機插拔測試（Headset Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：耳機插拔壽命測試
測試數(shù)量：2臺手機。
試驗方法：將手機處于開機狀態(tài)，耳機插在耳機插孔內(nèi)，然后拔出，反復3000次。進行到2000、2500次和3000次時各檢查一次。
檢驗標準：實驗后檢查耳機插座無焊接故障，耳機插頭無損傷，使用耳機通話接收與送話無雜音（通話過程中轉(zhuǎn)動耳機插頭），耳機插入手機耳機插孔時不會松動（可以承受得住手機本身的重量）。






7.3.13.導線連接強度試驗（Cable Pulling Endurance Test--Draft）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：導線連接強度測試
實驗方法：選取靠近耳塞的一段導線，將其兩端固定在實驗機上，用10N±1N的力度持續(xù)拉伸6秒，循環(huán)100次。（其它造型的導線可采納工程師的建議來確定循環(huán)次數(shù)）
檢驗標準：導線功能正常。被覆外皮不破裂，變形。


7.3.14.導線折彎強度試驗（Cable Bending Endurance Test--Draft）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：導線折彎疲勞測試
實驗方法：分別選取靠近耳塞和靠近插頭的一段導線，將導線的兩端固定在實驗機上，做0mm~25mm做折彎實驗3000次。（其它造型的導線可采納工程師的建議來確定循環(huán)次數(shù)）
檢驗標準：導線功能正常被覆外皮不破裂，變形。


7.3.15.導線擺動疲勞試驗（Cable Swing Endurance Test--Draft）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：導線擺動疲勞測試
實驗方法:分別將耳機和插頭固定在實驗機上，用1N的力，以180°的角度反復擺動耳機末端3000次。（其它造型的導線可采納工程師的建議來確定循環(huán)次數(shù)）
檢驗標準：導線功能正常被覆外皮不破裂。


7.4 表面裝飾測試 （Decorative Surface Test）
測試周期：4 天。
樣品標準數(shù)量：每種顏色6 套外殼。
測試流程：
7.4.1.磨擦測試（Abrasion Test - RCA）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：印刷/噴涂抗摩擦測試
試驗方法：將zui終噴樣品涂固定在RCA試驗機上，用175g力隊同一點進行摩擦試驗。每隔50次檢查樣品的表面噴涂。對于表面摩擦300cycles，側(cè)棱摩擦150Cycles。特殊形狀的手機摩擦點的確定由測試工程師和設(shè)計工程師共同確定。
檢驗標準：耐磨點涂層不能脫落，不可露出底材質(zhì)地（對于噴涂、電鍍、IMD）；圖案或字體不能缺損、不清晰（對于絲印、按鍵）。
7.4.2.附著力測試（Coating Adhesion Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：噴涂附著力測試
試驗方法：選zui終噴涂的手機外殼表面，使用百格刀刻出100個1平方毫米的方格，劃格的深度以露出底材為止，再用3M610號膠帶紙用力粘貼在方格面，1分鐘后迅速以90度的角度撕脫3次，檢查方格面油漆是否有脫落。
檢驗標準：方格面油漆脫落應小于3%，并且沒有滿格脫落。


7.4.3.汗液測試（Perspiration Test）
測試環(huán)境：60 oC，95%RH
測試目的：表面抗汗液腐蝕能力
試驗方法：把濾紙放于酸性（PH=2.6）溶液充分浸透，用膠帶將浸有酸性溶液的濾紙粘在樣品噴漆表面，確保試紙與樣品噴漆表面充分接觸，然后放在測試環(huán)境中，在24小時檢查一次，48小時后，將樣品從測試環(huán)境中取出，并且放置2小時后，檢查樣品表面噴漆。
檢驗標準：噴漆表面無變色、起皮、脫落、褪色等異常。


7.4.4.硬度測試（Hardness Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：表面噴涂硬度測試
試驗方法：用2H鉛筆，在45度角下，以1Kg的力度在樣品表面從不同的方向劃出3~5cm長的線條3~5條。
檢驗標準：用橡皮擦去鉛筆痕跡后，在油漆表面應不留下劃痕。


7.4.５. 鏡面摩擦測試（Lens Scratch Test）
測試環(huán)境: 室溫（20~25° C）；
測試目的：鏡面抗劃傷測試
試驗方法：用Scratch Tester將實驗樣品固定在實驗機上，用載重（load）為500g的力在樣品表面往復劃傷50次。
檢驗標準：鏡面表面劃傷寬度應不大于100μm（依靠目視分辨、參照缺陷限度樣板）


7.4.6 紫外線照射測試（UV illuminant Test）
測試環(huán)境：50° C
測試目的：噴涂抗紫外線照射測試
試驗方法：在溫度為50°C，紫外線為340W/mm2的光線下直射油漆表面48小時。試驗結(jié)束后將手機外殼取出，在常溫下冷卻2小時后檢查噴漆表面。
檢驗標準：油漆表面應無褪色，變色，紋路，開裂，剝落等現(xiàn)象。

7.5.1. 低溫跌落試驗（Low temperature Drop Test）
測試環(huán)境：-10° C
樣機數(shù)量: 3臺
測試目的：樣機低溫跌落測試
試驗方法：將手機進行電性能參數(shù)測試后處于開機狀態(tài)放置在-10°C的低溫試驗箱內(nèi)1小時后取出，進行1.2米的６個面跌落，２個循環(huán)，要求3分鐘內(nèi)完成跌落，方法同常溫跌落。

 
樣品標準數(shù)量：5 臺。
測試周期：1 天。
測試流程:
測試標準：




7.6.1螺釘?shù)臏y試（Screw Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
樣機數(shù)量: 3臺
測試目的：螺釘拆裝疲勞測試
試驗方法：將手機平放在試驗臺上用允許的zui大扭矩(由設(shè)計工程師和生產(chǎn)工程師提供), 對同一螺釘在同一位置反復旋動螺釘10次.
檢驗標準：試驗中和完成后,螺紋沒有變形,損壞,滑絲,用肉眼觀察沒有裂紋; INSERT不能有明顯的松動,劃絲;螺釘口(包括機械和自攻螺釘)不能有明顯的松動,劃絲


7.6.2掛繩孔強度的測試（Hand Strap Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
樣機數(shù)量: 2臺
測試目的：掛繩孔結(jié)構(gòu)強度測試
試驗方法：將掛繩穿過掛繩孔并以2圈/秒的速率在垂直的平面內(nèi)轉(zhuǎn)動100圈,

然后用拉力計以持續(xù)不斷的力拉手機的掛繩.
檢驗標準：手機的掛繩能容易的穿過掛繩孔(不借助于特殊的工具); 轉(zhuǎn)動手機時,掛繩 孔不能被損壞; 掛繩孔的破壞力不能小于12kgf(117N)

8 zui終檢驗
可靠性實驗后的檢驗
zui終檢驗不僅是對樣機進行外觀，功能和電性能參數(shù)的檢驗，還包括：內(nèi)部是否有裂紋，元器件是否有松動或丟失，是否有污染物的痕跡或結(jié)晶物出現(xiàn)，以及潛在的裝配問題。

8 .1 所有進行加速壽命測試ALT(Accelerated Life Test）在實驗結(jié)束或中斷后，都要被拆開進行檢驗。
8.2 在結(jié)構(gòu)壽命測試項中進行： KEYPAD測試，SIDEKEY測試，MICRO-DROP測試，CHARGERCONNECTOR測試，F(xiàn)LIP/SLIDE測試以及HEADSET測試項，在實驗結(jié)束或中斷后，都要被拆開進行檢驗。
8.3 所有特殊條件測試項以及SCREW ENDURANCE 測試，VIB振動測試的樣機都要進行拆機檢查。
檢驗工作需在一個干凈明亮的環(huán)境下進行，以保證拆開手機時可以清楚地看到手機內(nèi)部有無元器件松動或小塑料件碎片。并需要根據(jù)試驗報告中樣機的編號找到相應的樣機檢查以上提到的各個注意事項。在拆開手機之前未發(fā)現(xiàn)的認為能導致zui終故障的嚴重問題需附加為故障機，較小的問題需要在產(chǎn)品的相關(guān)文件中備案。