如何檢定電子天平|電子天平檢定方法
一、電子天平種類：
1、超微量電子天平：超微量天平的zui大稱量是2至5g，其標(biāo)尺分度值小于（zui大）稱量的10-6，如Mettler的UMT2型電子天平等屬于超微量電子天平。
2、微量天平：微量天平的稱量一般在3至50g，其分度值小于（zui大）稱量的10-5，如Mettler的AT21型電子天平以及Sartoruis的S4型電子天平。
3、半微量天平：半微量天平的稱量一般在20至100g，其分度值小于（zui大）稱量的10-5，如Mettler的AE50型電子天平和Sartoruis的M25D型電子天平等均屬于此類。
4、常量電子天平：此種天平的zui大稱量一般在100至200g，其分度值小于（zui大）稱量的10-5，如Mettler的AE200型電子天平和Sartoruis的A120S、A200S型電子天平均屬于常量電子天平。
5、分析天平：其實(shí)電子分析天平，是常量天平、半微量天平、微量天平和超微量天平的總稱。
6、 精密電子天平：這類電子天平是準(zhǔn)確度級(jí)別為Ⅱ級(jí)的電子天平的統(tǒng)稱。
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二、電子天平計(jì)量檢定方法：
檢定一：重復(fù)性檢定
重復(fù)性是描述電子天平在相同的測(cè)量條件下,對(duì)同一載荷多次稱量結(jié)果之間的差值,是衡量電子天平稱量結(jié)果能否達(dá)到一致的能力。重復(fù)性檢定應(yīng)在空載和加載狀態(tài)下進(jìn)行,對(duì)e≥5d的電子天平同樣允許省略數(shù)字化整誤差的修正過程而直接用天平示值減去砝碼質(zhì)量值來計(jì)算重復(fù)性誤差。
檢定二：各載荷點(diǎn)的zui大允許誤差的檢定
電子天平的zui大允許誤差是指天平的線性度,它與電子天平的準(zhǔn)確度等級(jí)和稱量有關(guān),其目的是判定電子天平的示值誤差是否在規(guī)定的范圍內(nèi)。通常,示值誤差(E)由下式來確定:E=I-I0,I為天平指示值,I0為標(biāo)準(zhǔn)砝碼的標(biāo)稱值。對(duì)電子天平來說,這樣計(jì)算示值誤差是不夠嚴(yán)密的。我們知道,電子天平是數(shù)字顯示方式,其示值的變化不是連續(xù)的,而是以階躍形式進(jìn)行。
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檢定三：靈敏度和鑒別力的檢定
靈敏度是指對(duì)于一個(gè)給定的重量變化,衡器的指示值相應(yīng)能發(fā)生的示值變化。而鑒別力則是表征衡器對(duì)微小載荷的反應(yīng)能力,也即要引起衡器示值有一個(gè)可發(fā)覺的變化需要添加的重量是多少。對(duì)電子天平來說,鑒別力是一個(gè)有意義的概念,而靈敏度則沒有實(shí)際意義,因此檢定員不要因?yàn)橐?guī)程中將二者列在一起說明而產(chǎn)生誤解。
對(duì)使用中的電子天平鑒別力的檢定,通常允許作簡化處理,即選擇在空載或全載時(shí)處于平衡狀態(tài)的天平上,用質(zhì)量為1.4d的小砝碼,輕緩地加放在天平上或從其上拿下,此時(shí)原來的天平示值應(yīng)有變化。一般來說,使用中的電子天平的鑒別力不會(huì)有問題,所以規(guī)程中指出:對(duì)于d≤1mg或e>2d的電子天平,允許免檢其鑒別力。
檢定四：偏載檢驗(yàn)
偏載檢驗(yàn)又稱四角誤差檢驗(yàn),它是通過將載荷放置在稱盤上不同的位置來檢驗(yàn)天平提供一致結(jié)果的能力。在實(shí)際檢定工作中,應(yīng)根據(jù)電子天平的使用要求來確定檢驗(yàn)載荷。
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