半導體中空玻璃露點儀 中空玻璃露點儀 返回列表頁

一、 用途

露點儀是根據中華人民共和國國定標準GB/T11944-2002《中空玻璃》設計研制的中空玻璃的檢測儀器。使用于中空玻璃、真空玻璃及密封玻璃制品的露點檢測。廣泛用于玻璃深加工企業的質量控制和各級質量監督檢測部門。

二、 儀器結構與工作原理

本儀器由低溫測試頭和制冷機組組成，通過測試頭和被檢測樣品的緊密接觸，使樣品表面局部冷卻，當達到一定溫度后，內部水氣在冷點部分結露或結霜。露點儀主要檢測樣品在某一溫度下是否結露或結霜。

三、 規格及主要技術參數

1、低溫測試頭表面直徑：50mm。

2、測溫范圍：-60-0℃ 準確度：0.5%

3、工作電壓：220伏

4、使用環境：溫度0-50℃

四、設備清單

1．制冷主機 1套

2．低溫測試頭 1個

3．真空吸盤 1個

4．產品合格證 1份

5．產品說明書 1份