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山東利達(dá)信儀器儀表設(shè)備有限公司資料大小
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264次非接觸電阻率測(cè)試儀 非接觸厚度測(cè)試儀 非接觸方塊電阻測(cè)試儀 型號(hào)：HAD-JXNR-1/JXNRT-1
一、產(chǎn)品特點(diǎn)
1.非接觸測(cè)量硅半導(dǎo)體材料的電阻率
2.適合測(cè)試硅片，不損傷樣品表面。
3.采用通用PC處理數(shù)據(jù),方便數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、打印
4.軟件界面直觀友好
5.樣片校準(zhǔn)快速、方便
二、推薦工作條件
1． 溫度：23±2℃
2． 濕度：60%~70%
3． 無強(qiáng)光照、無強(qiáng)磁場(chǎng)、不與高頻設(shè)備鄰近
三、參數(shù)指標(biāo)
1．整機(jī)尺寸：340mm×260mm×150mm
2．電阻率量程：0.1~50Ω﹡㎝
3．誤差范圍：±5%
4．硅片厚度：適合150-600um厚度
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